[實用新型]硅通孔通道測試裝置

有效

• 申請號: 201822006137.4
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN209182370U
• 公開（公告）日: 2019-07-30
• 發明（設計）人: 冉紅雷;黃杰;彭浩;盛曉杰
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十三研究所
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/073
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 郝偉

1.硅通孔通道測試裝置，其特征在于，包括安裝座以及至少一組用于對硅通孔通道進行測試并用于對硅通孔轉接板起支撐作用的探針組件，所述探針組件包括第一彈簧測試探針和與所述第一彈簧測試探針配合測試的第二彈簧測試探針，所述第一彈簧測試探針和所述第二彈簧測試探針的結構相同，所述安裝座包括第一支座部和位于所述第一支座部一側的第二支座部，所述第一彈簧測試探針設置于所述第一支座部上，所述第二彈簧測試探針設置于所述第二支座部上，所述第一彈簧測試探針和所述第二彈簧測試探針之間形成用于放置硅通孔轉接板的放置空間。

2.如權利要求1所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述第一支座部或所述第二支座部還設有若干用于使硅通孔轉接板相對于所述第一彈簧測試探針的安裝面保持平行狀態的平衡彈性探針，所述平衡彈性探針的高度大于所述第一彈簧測試探針或所述第二彈簧測試探針的高度，且所述平衡彈性探針對硅通孔轉接板的彈性作用力大于所述第一彈簧測試探針或所述第二彈簧測試探針對硅通孔轉接板的彈性作用力。

3.如權利要求1或2所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述硅通孔通道測試裝置還包括設置在所述安裝座上的定位組件，所述定位組件包括用于將硅通孔轉接板定位到所述第二支座部或所述第一支座部上預設位置的定位結構。

4.如權利要求3所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述第二支座部位于所述第一支座部的下方，所述定位結構設置在所述第二支座部上，所述定位結構包括分別與硅通孔轉接板的兩相鄰側壁分別抵接定位的第一定位面和第二定位面。

5.如權利要求4所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述定位組件還包括用于對硅通孔轉接板施加作用力并使硅通孔轉接板的兩相鄰側壁分別與所述第一定位面和所述第二定位面保持抵接的夾緊機構。

6.如權利要求5所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述夾緊機構包括復位彈性件以及用于對硅通孔轉接板施加作用力并與所述第二支座部滑動連接的夾緊件，所述復位彈性件的一端與所述夾緊件相連，所述復位彈性件的另一端與所述第二支座部相連，所述夾緊機構通過所述夾緊件和所述復位彈性件的作用對硅通孔轉接板形成定位夾緊力。

7.如權利要求3所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述第一支座部和所述第二支座部為兩個分離的部件，所述硅通孔通道測試裝置還包括用于將所述第一支座部定位至所述第二支座部預設位置的支座定位機構。

8.如權利要求7所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述支座定位機構包括設置在所述第一支座部或所述第二支座部上的定位插柱以及設置在所述第二支座部或所述第一支座部上并與所述定位插柱插接配合的定位孔。

9.如權利要求7所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述硅通孔通道測試裝置還包括用于活動連接所述第一支座部和所述第二支座部的活動連接組件。

10.如權利要求1或2所述的硅通孔通道測試裝置，其特征在于，所述硅通孔通道測試裝置還包括安裝在所述第一支座部上的第一測試組件以及安裝在所述第二支座部上的第二測試組件，所述第一測試組件包括第一印制電路板以及第一連接器，所述第一印制電路板分別與所述第一連接器和所述第一彈簧測試探針電性連接；所述第二測試組件包括第二印制電路板以及第二連接器，所述第二印制電路板分別與所述第二連接器和所述第二彈簧測試探針電性連接。