[實用新型]繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置

有效

• 申請號: 201821990245.3
• 申請日: 2018-11-29
• 公開（公告）號: CN209167498U
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 瞿明生
• 申請（專利權）人: 貴州航天計量測試技術研究所
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R35/02
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 商小川

本實用新型公開了一種繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置，它包括單刀雙投開關，雙投開關的轉換端B引出到接線端A；單刀雙投開關的D端引出到第一NPN型晶體三極管的基極；單刀雙投開關的C端引出到第二NPN型晶體三極管的基極，第一NPN型晶體三極管的集電極引出到接線端E；第二NPN型晶體三極管的集電極引出到接線端F；第一NPN型晶體三極管的發射極引出到接地端GND；第二NPN型晶體三極管的發射極引出到接地端GND；解決了現有技術不能精確設定要校準的時間間隔點，從而造成所校準的點不能覆蓋整個量程范圍的難題。同時現有校準方法精度不高，不能滿足量傳要求等問題。

技術領域

本實用新型屬于測量儀器校準技術，尤其涉及一種繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置。

背景技術

繼電器綜合參數測試系統主要由時間測量單元、電源、測試夾具、電阻測量單元、電壓測量單元、電流測量單元、線圈電源和計算機等部分組成。用于測試繼電器的吸合時間、釋放時間、線圈電阻、觸頭接觸電阻、電壓、電流等多參數的綜合測試系統。

繼電器綜合參測試系統測試繼電器吸合時間和釋放時間的工作原理如說明書附圖1所示。左邊虛線框為繼電器綜合參數測試系統，右邊虛線框為被測繼電器。將繼電器的轉換觸點、常閉觸點和常開觸點分別連接到繼電器綜合參數測試系統對應的轉換端、常閉端和常開端。繼電器的線圈接線端接到繼電器綜合參數測試系統的線圈電源端。

設繼電器線圈所需的額定電壓為V₁、常閉端對轉換端的電壓為V₂，常開端對轉換端的電壓為V₃、繼電器綜合參數測試系統線圈電源端輸出的電壓為V₄。

吸合時間測量方法如下：設置繼電器綜合參數測試系統為吸合時間測量功能，啟動測量。當繼電器綜合參數測試系統的線圈電源端輸出繼電器線圈所需的額定電壓V₁時，繼電器線圈通電，繼電器綜合參數測系統開始計時，經過一段時間后，轉換觸點與常開觸點閉合，繼電器綜合參數測試系統停止計時，這一段時間間隔稱為繼電器的吸合時間。

釋放時間測量方法如下：

設置繼電器綜合參數測試系統為釋放時間測量功能，啟動測量。測試順序是：首先，繼電器綜合參數測試系統的線圈電源端輸出繼電器線圈所需的額定電壓V₁，繼電器導通，轉換觸點與常開觸點是閉合的。當繼電器綜合參數測試系統的線圈電源端輸出的線圈額定電壓由V₁跳變為0V時，即給繼電器線圈斷電，繼電器綜合參數測試系統開始計時，經過一段時間后，轉換觸點與常閉觸點接通，繼電器綜合參數測試系統停止計時，這一段時間間隔稱為繼電器的釋放時間。

目前，繼電器綜合參數測試系統屬于專用測試設備，對其進行校準還沒有專用的校準裝置。現行的一種校準方法連接框圖如說明書附圖2所示。左邊2個虛線框分別為繼電器綜合參數測試系統和示波器，右邊虛線框為被測繼電器。

將繼電器綜合參數測試系統的線圈電源端用示波器電壓探頭連接到示波器的通道1上；將繼電器的轉換觸點和常開觸點用示波器電壓探頭連接到示波器的通道2上；將繼電器的轉換觸點和常閉觸點用示波器電壓探頭連接到示波器的通道3上。校準方法如下：

吸合時間校準：

設置繼電器綜合參數測試系統為觸點閉合時間測量功能，啟動測量，當繼電器綜合參數測試系統的線圈電源端輸出的繼電器線圈所需的額定電壓為V₁時，示波器的通道1在t₁時刻測得波形，繼電器通電后，經過一段時間，常開觸點閉合，示波器的通道2在t₂時刻測得波形，如說明書附圖3所示。示波器測得的吸合時間為T₀＝t₂-t₁，同時，繼電器綜合參數測試系統測得的吸合時間為T，吸合時間測量誤差按公式(1)計算：

ΔT＝T-T₀ (1)