[實用新型]繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置有效

申請號：	201821990245.3	申請日：	2018-11-29
公開（公告）號：	CN209167498U	公開（公告）日：	2019-07-26
發明（設計）人：	瞿明生	申請（專利權）人：	貴州航天計量測試技術研究所
主分類號：	G01R31/327	分類號：	G01R31/327;G01R35/02
代理公司：	貴陽中新專利商標事務所 52100	代理人：	商小川
地址：	550009 ***	國省代碼：	貴州;52
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	雙投開關單刀接線端校準繼電器綜合參數測試系統時間校準裝置發射極集電極接地端吸合本實用新型釋放量程轉換覆蓋
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【權利要求書】：

1.一種繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置，它包括單刀雙投開關（1），其特征在于：單刀雙投開關（1）的轉換端B引出到接線端A；單刀雙投開關（1）的D端引出到第一NPN型晶體三極管（2）的基極；單刀雙投開關（1）的C端引出到第二NPN型晶體三極管（3）的基極，第一NPN型晶體三極管（2）的集電極引出到接線端E；第二NPN型晶體三極管（3）的集電極引出到接線端F；第一NPN型晶體三極管（2）的發射極引出到接地端GND；第二NPN型晶體三極管（3）的發射極引出到接地端GND。

2.根據權利要求1所述的一種繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置，其特征在于：所述接線端A、E和F均為BNC接頭。

3.根據權利要求1所述的一種繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置，其特征在于：繼電器綜合參數測試系統線圈電源端的正端與函數或任意波形發生器的外觸發輸入端相連；繼電器綜合參數測試系統的常開端與校準裝置的F端相連；繼電器綜合參數測試系統的常閉端與校準裝置的E端相連；函數或任意波形發生器的輸出端與校準裝置的A端相連。

4.根據權利要求1所述的一種繼電器綜合參數測試系統的吸合釋放時間校準裝置，其特征在于：函數或任意波形發生器的內部晶振用外接參考頻標代替。

下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。

免登錄下載普通用戶下載升級VIP會員，免費下載

該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于貴州航天計量測試技術研究所，未經貴州航天計量測試技術研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】

本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821990245.3/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。