[實用新型]一種SOC芯片測試與驗證系統

有效

• 申請號: 201821923916.4
• 申請日: 2018-11-21
• 公開（公告）號: CN209746085U
• 公開（公告）日: 2019-12-06
• 發明（設計）人: 顏軍;孫凌燕;黃成;葉靜靜;石金明
• 申請（專利權）人: 上海歐比特航天科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 44291 廣東朗乾律師事務所
• 代理人: 閆有幸<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，包括：FPGA處理模塊、電源模塊、SRAM存儲模塊A、FLASH存儲器A、測試電路、擴展測試模塊、A/D監測模塊；所述FPGA處理模塊與電源模塊、測試電路、擴展測試模塊、SRAM存儲模塊A、FLASH存儲器A連接；所述電源模塊與所述FPGA處理模塊、測試電路、擴展測試模塊連接；所述A/D監測模塊與所述FPGA處理模塊、擴展測試模塊、被測芯片連接。

2.根據權利要求1所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述FPGA處理模塊，包括CPU、RS232接口、I/O接口、PWM模塊、1553B接口；所述CPU與RS232接口、I/O接口、PWM模塊、1553B接口連接。

3.根據權利要求1所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述電源模塊，包括電流監測芯片、電源控制模塊和隔離電源模塊；所述電流監測芯片與所述電源控制模塊、隔離電源模塊連接；所述電源控制模塊用于控制電源的通、斷。

4.根據權利要求1所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述測試電路包測試電路A、測試電路B；所述測試電路A與被測芯片A連接；所述測試電路B與被測芯片B連接。

5.根據權利要求4所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述測試電路A包括外部中斷測試電路A、計數器測試電路、1533B測試電路、DSU測試電路A、倍頻測試電路A、GPIO測試電路A、SRAM測試電路A、FLASH測試電路A、IO測試電路A、A/D測試電路、16550測試電路和定時器測試電路；所述FPGA處理模塊通過外部中斷測試電路A、計數器測試電路、1533B測試電路、DSU測試電路A、倍頻測試電路A、SRAM測試電路A、FLASH測試電路A、IO測試電路A、A/D測試電路、UART測試電路A、16550測試電路、定時器測試電路與所述被測芯片A連接；所述GPIO測試電路A、UART測試電路A的兩個連接端都與所述被測芯片A連接。

6.根據權利要求5所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述測試電路A還包括SRAM存儲模塊B、SRAM存儲模塊C、FLASH存儲器B；所述SRAM存儲模塊C通過所述IO測試電路與所述被測芯片A連接；所述FLASH存儲器B通過所述FLASH測試電路A與所述被測芯片A連接；所述SRAM存儲模塊B通過所述SRAM測試電路A與所述被測芯片A連接。

7.根據權利要求4所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述測試電路B包括外部中斷測試電路B、DSU測試電路B、倍頻測試電路B、GPIO測試電路B、SRAM測試電路B、FLASH測試電路B、IO測試電路B、UART測試電路B、VBUS測試電路、HSC測試電路、DI/DO測試電路、MODBUS測試電路、SPI測試電路、16550測試電路B、PWM/PTO測試電路；所述FPGA處理模塊通過外部中斷測試電路B、DSU測試電路B、倍頻測試電路B、VBUS測試電路、16550測試電路B與所述被測芯片B連接；所述GPIO測試電路B、UART測試電路B、HSC測試電路、DI/DO測試電路、MODBUS測試電路、PWM/PTO測試電路的兩個連接端都與所述被測芯片B連接。

8.根據權利要求7所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述測試電路B還包括SRAM存儲模塊D、SRAM存儲模塊D、FLASH存儲器C、EEPROM模塊；所述SRAM存儲模塊D通過所述SRAM測試電路B與所述被測芯片B連接；所述FLASH存儲器C通過所述FLASH測試電路B與所述被測芯片B連接；所述SRAM存儲模塊E通過所述IO測試電路B與所述被測芯片B連接；所述EEPROM模塊通過SPI測試電路與所述被測芯片B連接。

9.根據權利要求5或7所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述測試電路還包括串并轉換模塊、三八譯碼器；所述GPIO測試電路A和GPIO測試電路B上都設置有所述串并轉換模塊；所述FLASH測試電路A和FLASH測試電路B上都設置有所述三八譯碼器。

10.根據權利要求5或7所述的SOC芯片測試與驗證系統，其特征在于，所述A/D監測模塊包括AD轉換芯片，所述AD轉換芯片與所述FPGA處理模塊、擴展測試模塊、測試電路、被測芯片A和被測芯片B連接。