[實(shí)用新型]基于FPGA芯片的通用I/O測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821917851.2 | 申請日： | 2018-11-20 |
| 公開（公告）號： | CN209247916U | 公開（公告）日： | 2019-08-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 吳彬;王永超;張興堂;夏朋浩;張吉遠(yuǎn);孫成寬;王文俊 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國船舶重工集團(tuán)公司第七一六研究所 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 南京理工大學(xué)專利中心 32203 | 代理人： | 陳鵬 |
| 地址： | 222000 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電平轉(zhuǎn)換電路 撥碼開關(guān) 公頭 本實(shí)用新型 測試裝置 電平控制信號 對外通信接口 測試 測試效率 電平轉(zhuǎn)換 通用 多通道 脈寬 | ||
1.一種基于FPGA芯片的通用I/O測試裝置，其特征在于，包括FPGA芯片、撥碼開關(guān)、電平轉(zhuǎn)換電路和DB15公頭；
所述撥碼開關(guān)、電平轉(zhuǎn)換電路與FPGA芯片連接，DB15公頭與電平轉(zhuǎn)換電路連接；撥碼開關(guān)用于選擇FPGA芯片I/O信號的頻率和脈寬，并產(chǎn)生電平控制信號，電平轉(zhuǎn)換電路實(shí)現(xiàn)電平轉(zhuǎn)換，DB15公頭為對外通信接口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FPGA芯片的通用I/O測試裝置，其特征在于，電平轉(zhuǎn)換電路實(shí)現(xiàn)3.3V、5V、12V和24V電平選擇。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于FPGA芯片的通用I/O測試裝置，其特征在于，電平轉(zhuǎn)換電路包括光耦、次級電路和繼電器，I/O信號通過光耦傳輸至次級電路，電平控制信號通過繼電器選擇3.3V、5V、12V或24V接入次級電路的集電極端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的基于FPGA芯片的通用I/O測試裝置，其特征在于，所述FPGA芯片為EP2C35F672I8。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的基于FPGA芯片的通用I/O測試裝置，其特征在于，外部33MHz的頻率在FPGA內(nèi)分成500Hz、1KHz、2KHz、4KHz、8KHz、1MHz，占空比30％、50％和70％可選，通過撥碼開關(guān)控制頻率的占空比、頻率值的輸出。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FPGA芯片的通用I/O測試裝置，其特征在于，DB15公頭與待測試設(shè)備I/O調(diào)試線纜DB15母頭遵循相同的信號定義。
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