[實用新型]一種掩模版取放裝置、曝光系統及光刻機有效
| 申請號: | 201821877705.1 | 申請日: | 2018-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN208922065U | 公開(公告)日: | 2019-05-31 |
| 發明(設計)人: | 沈雪;蘇延洪;柯汎宗;黃志凱;葉日銓 | 申請(專利權)人: | 德淮半導體有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 上海思捷知識產權代理有限公司 31295 | 代理人: | 王宏婧 |
| 地址: | 223300 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 掩模版 吸附組件 取放裝置 負極板 負離子 正極板 正離子 硫酸根離子 電源 氨根離子 曝光系統 電極板 光刻機 吸附 正極 本實用新型 負極 極性相反 曝光圖形 產能 去除 生產成本 生產 | ||
1.一種掩模版取放裝置,其特征在于,包括一對極性相反的電極板、正離子吸附組件、負離子吸附組件及一電源,所述電極板中的正極板連接于所述電源的正極,負極板連接于所述電源的負極,所述正離子吸附組件設置于所述負極板的靠近所述正極板的一端面上,所述負離子吸附組件設置于所述正極板的靠近所述負極板的一端面上,所述正離子吸附組件用于吸附所述掩模版周邊的硫酸根離子,所述負離子吸附組件用于吸附所述掩模版周邊的氨根離子。
2.如權利要求1所述的掩模版取放裝置,其特征在于,所述正離子吸附組件由正離子吸附材料組成,所述正離子吸附材料包括鎂鹽和磷鹽。
3.如權利要求1所述的掩模版取放裝置,其特征在于,所述負離子吸附組件由負離子吸附材料組成,所述負離子吸附材料包括Ba2+或Ca2+。
4.如權利要求1所述的掩模版取放裝置,其特征在于,包括一組或多組成對設置的所述正、負離子吸附組件。
5.如權利要求1所述的掩模版取放裝置,其特征在于,還包括傳感器和控制器,所述傳感器用于檢測環境中的所述硫酸根離子或所述氨根離子,所述傳感器與所述控制器通信連接,所述傳感器檢測到所述硫酸根離子或所述氨根離子時,所述控制器分別控制所述正、負極板通電。
6.如權利要求1所述的掩模版取放裝置,其特征在于,所述掩模版取放裝置為機械手臂或掩模版存儲裝置。
7.如權利要求6所述的掩模版取放裝置,其特征在于,所述掩模版存儲裝置為掩模版庫、掩模版盒或光刻機的掩模版緩存盒。
8.一種光刻機的曝光系統,其特征在于,包括如權利要求1-7任一項所述的一種掩模版取放裝置。
9.一種光刻機,其特征在于,包括如權利要求8所述的一種光刻機的曝光系統。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于德淮半導體有限公司,未經德淮半導體有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821877705.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





