[實用新型]電性連接測試用薄膜探針

有效

• 申請號: 201821859968.X
• 申請日: 2018-11-13
• 公開（公告）號: CN209148734U
• 公開（公告）日: 2019-07-23
• 發明（設計）人: 胡隆銀;孫照魯
• 申請（專利權）人: 南京視倍安智能科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司 32218
• 代理人: 瞿網蘭

一種電性連接測試用薄膜探針，其特征是它由硅膠（1）和呈點陣式固定在硅膠（1）中的導電金針（2）組成，所述的導電金針（2）的高出硅膠（1）上下表面的高度為0.03～0.05毫米。本實用新型具有成本低、使用、制造方便，壽命長，不易損壞的優點。

技術領域

本實用新型涉及一種液晶顯示及IC封裝技術，尤其是一種液晶顯示及IC封裝過程中使用的電性測試技術，具體地說是一種電性連接測試用薄膜探針。

背景技術

目前，在液晶顯示和IC封裝行業進行產品電性測試時普遍采用機械式探針，這種探針在進行電性檢測時存在對位困難、電阻過大、易損壞、耗用成本高以及會對精細表面造成損傷的問題。

目前，行業內普遍存在的微小電路連接測試時使用機械探針進行相關的連接測試，因機械探針針對間距小于0.15mm的金手指很難滿足電性測試的需求、且使用機械探針結構使測試結構變的很復雜、對位過程中以造成機械探針的損壞、對于機械探針的固定結構加工精度要求高、成本高且容易造成產品表面的壓傷，因此急需開發出一種全新聞探針結構，以滿足高精度、高頻率、小間距的電性連接測試需求。

實用新型內容

本實用新型的目的是針對現有的液晶顯示和IC封裝行業的電性測試使用的機械探針存在電阻大，易損壞的問題，設計一種電性連接測試用薄膜探針。

本實用新型的技術方案是：

一種電性連接測試用薄膜探針，其特征是它由硅膠1和呈點陣式固定在硅膠1中的導電金針2組成。

所述的導電金針2的兩端均高出硅膠1的上下表面。

所述的導電金針2的高出硅膠1上下表面的高度為0.03～0.05毫米。

所述的導電金針2同方向斜插在硅膠1中。

所述的導電金針2同方向斜插的角度有60度和75度。

所述的導電金針2之間的中心距離為0.04～0.1毫米，且等間距或非等間距布置。

所述的導電金針2的直徑為0.018～0.03毫米。

本實用新型的有益效果：

本實用新型的單回路的電阻（小于0.02歐姆）遠低于機械探針（大于1歐姆）。

本實用新型的抗機械力能力較強，受外力情況下不宜損壞，機械探針受外力容易發生斷針。

本實用新型應用比較方便，對于加工固定的結構精度要求較低，機械探針對于固定結構精度要求高。

本實用新型的薄膜探針因使用硅膠片內鑲嵌0.018mm或者是0.023mm金線的方式，不易造成被測物表面劃傷，使用機械探針容易造成被測物表面劃傷。

本實用新型具有成本低、使用、制造方便的優點。

附圖說明

圖1是本實用新型的俯視結構示意圖。

圖2是本實用新型的剖視結構示意圖之一。

圖3是本實用新型的剖視結構示意圖之二。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步的說明。

如圖1-3所示。