[實用新型]電性連接測試用薄膜探針有效
| 申請號： | 201821859968.X | 申請日： | 2018-11-13 |
| 公開（公告）號： | CN209148734U | 公開（公告）日： | 2019-07-23 |
| 發明（設計）人： | 胡隆銀;孫照魯 | 申請（專利權）人： | 南京視倍安智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 南京天華專利代理有限責任公司 32218 | 代理人： | 瞿網蘭 |
| 地址： | 210038 江蘇省南京市*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 硅膠 金針 薄膜探針 電性連接 導電 本實用新型 測試 上下表面 點陣式 制造 | ||
【權利要求書】：
1.一種電性連接測試用薄膜探針，其特征是它由硅膠（1）和呈點陣式固定在硅膠（1）中的導電金針（2）組成；所述的導電金針（2）的高出硅膠（1）上下表面的高度為0.03～0.05毫米。
2.根據權利要求1所述的電性連接測試用薄膜探針，其特征是所述的導電金針（2）同方向斜插在硅膠（1）中。
3.根據權利要求2所述的電性連接測試用薄膜探針，其特征是所述的導電金針（2）同方向斜插的角度有60度和75度。
4.根據權利要求1所述的電性連接測試用薄膜探針，其特征是所述的導電金針（2）之間的中心距離為0.04～0.1毫米，且等間距或非等間距布置。
5.根據權利要求1所述的電性連接測試用薄膜探針，其特征是所述的導電金針（2）的直徑為0.018～0.03毫米。
6.根據權利要求1所述的電性連接測試用薄膜探針，其特征是所述的硅膠（1）的厚度為0.15-2毫米。
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