[實用新型]一種芯片檢測用升降裝置

有效

• 申請號: 201821849125.1
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN209069985U
• 公開（公告）日: 2019-07-05
• 發明（設計）人: 潘泱
• 申請（專利權）人: 蘇州奧普特克自動化科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片檢測用升降裝置，其特征在于：包括升降裝置機架、氣缸、導向套管、導向柱、滑槽、滾珠、抬升板；所述升降裝置機架為一個長方體外框，升降裝置機架上端開口，升降裝置機架中段前后側各自設有一排滑槽；所述滑槽內排入滾珠；所述升降裝置機架內側底端中央位置設有氣缸；所述氣缸的氣缸桿連接抬升板，抬升板在氣缸桿的作用下在升降裝置機架上端開口到滑槽所在平面之間的范圍內升降；所述導向套管設置在升降裝置機架內側底端；所述導向柱設置在抬升板下表面；所述導向柱一端伸入導向套管內；所述升降裝置機架前后垂直面位于滑槽下方開出第一通槽；所述升降裝置機架左右垂直面位于滑槽上方開出第二通槽；所述第二通槽一側高度與滑槽上表面相同，第二通槽另一側高度略高于滑槽上表面，高出的部分形成擋塊；所述抬升板升起到最高位置時，抬升板上表面高度低于升降裝置機架一側的側壁高度，升降裝置機架另一側側壁高度與最高位置時的抬升板上表面高度一致，即在這一側升降裝置機架側壁上形成缺口。