[實用新型]一種芯片檢測用升降裝置有效
| 申請號: | 201821849125.1 | 申請日: | 2018-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN209069985U | 公開(公告)日: | 2019-07-05 |
| 發明(設計)人: | 潘泱 | 申請(專利權)人: | 蘇州奧普特克自動化科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215500 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 升降裝置 滑槽 抬升板 導向套管 導向柱 氣缸 本實用新型 上端開口 芯片檢測 垂直面 氣缸桿 底端 滾珠 通槽 所在平面 自動抬升 下表面 工位 伸入 外框 中段 升降 芯片 檢測 | ||
本實用新型公開了一種芯片檢測用升降裝置,包括升降裝置機架、氣缸、導向套管、導向柱、滑槽、滾珠、抬升板;升降裝置機架為一個長方體外框,升降裝置機架上端開口,升降裝置機架中段前后側各自設有一排滑槽;滑槽內排入滾珠;升降裝置機架內側底端中央位置設有氣缸;氣缸的氣缸桿連接抬升板,抬升板在氣缸桿的作用下在升降裝置機架上端開口到滑槽所在平面之間的范圍內升降;導向套管設置在升降裝置機架內側底端;導向柱設置在抬升板下表面;導向柱一端伸入導向套管內;升降裝置機架前后垂直面位于滑槽下方開出第一通槽;升降裝置機架左右垂直面位于滑槽上方開出第二通槽。本實用新型能夠實現芯片自動抬升到檢測工位。
技術領域
本實用新型涉及一種芯片檢測用升降裝置。
背景技術
現有的芯片檢測采用流水線檢測方式,檢測過程中需要通過升降機構將運送到檢測位置的被測芯片抬升到檢測工位。在此過程中,往往是工人手動將被測芯片放到升降機構上,再由升降機構將被測芯片抬升到檢測工位。采用該方式使得流水線工作不能在全自動的情況下進行,一定程度上影響效率,也增加了人工成本。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種芯片檢測用升降裝置,旨在解決上述問題。
為了實現上述目的,本實用新型的技術方案是設計一種芯片檢測用升降裝置,包括升降裝置機架、氣缸、導向套管、導向柱、滑槽、滾珠、抬升板;所述升降裝置機架為一個長方體外框,升降裝置機架上端開口,升降裝置機架中段前后側各自設有一排滑槽;所述滑槽內排入滾珠;所述升降裝置機架內側底端中央位置設有氣缸;所述氣缸的氣缸桿連接抬升板,抬升板在氣缸桿的作用下在升降裝置機架上端開口到滑槽所在平面之間的范圍內升降;所述導向套管設置在升降裝置機架內側底端;所述導向柱設置在抬升板下表面;所述導向柱一端伸入導向套管內;所述升降裝置機架前后垂直面位于滑槽下方開出第一通槽;所述升降裝置機架左右垂直面位于滑槽上方開出第二通槽;所述第二通槽一側高度與滑槽上表面相同,第二通槽另一側高度略高于滑槽上表面,高出的部分形成擋塊;所述抬升板升起到最高位置時,抬升板上表面高度低于升降裝置機架一側的側壁高度,升降裝置機架另一側側壁高度與最高位置時的抬升板上表面高度一致,即在這一側升降裝置機架側壁上形成缺口。
使用時,被測芯片從沒有設有擋塊的第二通槽處進入升降裝置機架內,在芯片兩側在滾珠上滑動,最終芯片位于抬升板上;氣缸上升,推動抬升板上升,導向柱在導向套管中移動,起到導向的作用。待抬升板上升至最高位置時即達到了檢測工位,等完成對芯片的檢測后,被測完畢的芯片從升降裝置機架側壁的缺口出移出。然后氣缸桿回縮,抬升板回到原位。第一通槽的作用是便于對氣缸的維修和更換。
本實用新型的優點和有益效果在于:本實用新型一種芯片檢測用升降裝置能夠實現芯片自動抬升到檢測工位,有效提高了檢測效率。
附圖說明
圖1為本實用新型前端觀測示意圖。
圖2為本實用新型側面觀測示意圖(抬升板位于起始位置)。
圖3為本實用新型側面觀測示意圖(抬升板位于最高位置)。
圖4為本實用新型前端觀測剖開示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖和實施例,對本實用新型的具體實施方式作進一步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本實用新型的技術方案,而不能以此來限制本實用新型的保護范圍。
實施例:
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