[實(shí)用新型]一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201821817548.5
• 申請(qǐng)日: 2018-11-06
• 公開（公告）號(hào): CN209086289U
• 公開（公告）日: 2019-07-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張烽;朱敏蔚;周建新
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 福建毫米電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 泉州君典專利代理事務(wù)所(普通合伙) 35239
• 代理人: 傅家強(qiáng)

本實(shí)用新型提供一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，片式元器件具有兩端電極，夾具包括上蓋板、下蓋板、上電極頂針、下電極頂針、上電極引線、下電極引線，上蓋板可拆卸地蓋緊在下蓋板上，上電極頂針下端可向上收縮地設(shè)置在上蓋板上，下電極頂針固定設(shè)置在下蓋板上，上、下電極頂針上下相對(duì)布置，上、下電極引線分別與上電極頂針下端、下電極頂針上端連接，下電極頂針頂部與下蓋板之間形成有放置片式元器件的凹槽，上蓋板蓋在下蓋板上后，片式元器件的兩端電極分別與上、下電極頂針接觸。本實(shí)用新型對(duì)片式元器件無(wú)損傷，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試效率高，可重復(fù)使用，且通用性強(qiáng)。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具。

背景技術(shù)

微波單層電容器在生產(chǎn)制造過程中，需要對(duì)其進(jìn)行電壓溫度特性的測(cè)試，以確定電容器在試驗(yàn)溫度下的電容值與基準(zhǔn)溫度下的電容值的相對(duì)變化程度，從而保證產(chǎn)品的質(zhì)量一致性及環(huán)境匹配性。舊有測(cè)試方法是將產(chǎn)品焊接到普通的載體(如玻纖板)上進(jìn)行試驗(yàn)，但此種試驗(yàn)方法對(duì)產(chǎn)品易造成損傷，且存在重復(fù)利用率低、測(cè)試精度不高等缺點(diǎn)。在現(xiàn)有技術(shù)中，也可借助夾具對(duì)電容器進(jìn)行電壓溫度特性測(cè)試，但現(xiàn)有夾具存在諸多缺陷：在高低溫測(cè)試過程中因短路或斷路現(xiàn)象常有發(fā)生，或者夾具的測(cè)試端頭與電容器容易發(fā)生接觸不良，導(dǎo)致發(fā)生測(cè)量失效，無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試到容值及容值變化趨勢(shì)，而當(dāng)測(cè)試失效時(shí)，需要再次進(jìn)行測(cè)試，如此則影響了測(cè)試效率；放置電容器困難且易損傷電容器的金層電極，影響測(cè)試的可靠性及結(jié)果；且無(wú)法有效測(cè)試小尺寸電容產(chǎn)品，對(duì)于小尺寸電容器，其表面電極為金電極，夾具容易損傷其鍍金層，影響其電性能。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提出一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，對(duì)片式元器件無(wú)損傷，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試效率高，可重復(fù)使用，且通用性強(qiáng)。

本實(shí)用新型通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：

一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，片式元器件具有兩端電極，夾具包括上蓋板、下蓋板、上電極頂針、下電極頂針、上電極引線、下電極引線，上蓋板可蓋緊在下蓋板上，上、下電極頂針上下相對(duì)布置，上電極頂針設(shè)置在上蓋板上且其下端可向上收縮，下電極頂針固定設(shè)置在下蓋板上，上、下電極引線分別與上電極頂針上端、下電極頂針下端連接，下電極頂針頂部與下蓋板之間形成有放置片式元器件的凹槽，上蓋板蓋緊在下蓋板上后，片式元器件的兩端電極分別與上、下電極頂針接觸。

進(jìn)一步的，所述上、下蓋板設(shè)置有分別用于安裝所述上、下電極頂針的安裝孔，安裝孔包括相互連通的一段孔和二段孔，上、下電極頂針均包括針管和設(shè)置在針管一端的針頭，針頭直徑小于一段孔直徑且大于二段孔直徑，所述凹槽由下電極頂針針頭與下蓋板的一段孔形成。

進(jìn)一步的，所述上電極頂針為彈簧頂針。

進(jìn)一步的，所述片式元器件包括微波單層電容器。

進(jìn)一步的，所述上、下蓋板上分別間隔設(shè)置有多個(gè)上、下電極頂針，多個(gè)上、下電極頂針兩兩上下相對(duì)布置。

進(jìn)一步的，所述上蓋板可通過螺栓蓋緊在下蓋板上。

進(jìn)一步的，所述上、下電極頂針的針管分別焊接固定在上、下蓋板的二段孔內(nèi)。

進(jìn)一步的，所述上、下電極頂針表面為鍍金層。

本實(shí)用新型具有如下有益效果：

1、測(cè)試時(shí)，下蓋板平放在工作臺(tái)上，將片式元器件放置在凹槽內(nèi)以防止片式元器件掉出，再將上蓋板蓋緊在下蓋板上即可進(jìn)行電壓溫度特性測(cè)試，此時(shí)上電極頂針向上收縮以將片式元器件下壓在下電極頂針上，保證片式元器件的兩端電極與上、下電極頂針的良好接觸，從而大大提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性，測(cè)試完成后，拆開上、下蓋板即可取出片式元器件，對(duì)片式元器件無(wú)損傷，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試效率高，可重復(fù)使用，可測(cè)試的片式元器件的尺寸從0.1mm*0.1mm*0.05mm到6mm*6mm*3mm，通用性強(qiáng)。