[實(shí)用新型]一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201821817548.5
• 申請(qǐng)日: 2018-11-06
• 公開（公告）號(hào): CN209086289U
• 公開（公告）日: 2019-07-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張烽;朱敏蔚;周建新
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 福建毫米電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 泉州君典專利代理事務(wù)所(普通合伙) 35239
• 代理人: 傅家強(qiáng)

1.一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，片式元器件具有兩端電極，其特征在于：夾具包括上蓋板、下蓋板、上電極頂針、下電極頂針、上電極引線、下電極引線，上蓋板可蓋緊在下蓋板上，上、下電極頂針上下相對(duì)布置，上電極頂針設(shè)置在上蓋板上且其下端可向上收縮，下電極頂針固定設(shè)置在下蓋板上，上、下電極引線分別與上電極頂針上端、下電極頂針下端連接，下電極頂針頂部與下蓋板之間形成有放置片式元器件的凹槽，上蓋板蓋緊在下蓋板上后，片式元器件的兩端電極分別與上、下電極頂針接觸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，其特征在于：所述上、下蓋板設(shè)置有分別用于安裝所述上、下電極頂針的安裝孔，安裝孔包括相互連通的一段孔和二段孔，上、下電極頂針均包括針管和設(shè)置在針管一端的針頭，針頭直徑小于一段孔直徑且大于二段孔直徑，所述凹槽由下電極頂針針頭與下蓋板的一段孔形成。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，其特征在于：所述上電極頂針為彈簧頂針。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，其特征在于：所述片式元器件包括微波單層電容器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，其特征在于：所述上、下蓋板上分別間隔設(shè)置有多個(gè)上、下電極頂針，多個(gè)上、下電極頂針兩兩上下相對(duì)布置。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，其特征在于：所述上蓋板可通過(guò)螺栓蓋緊在下蓋板上。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，其特征在于：所述上、下電極頂針的針管分別焊接固定在上、下蓋板的二段孔內(nèi)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種用于片式元器件電壓溫度特性測(cè)試的夾具，其特征在于：所述上、下電極頂針表面為鍍金層。