[實(shí)用新型]PCB測試機(jī)構(gòu)、測試壓板及PCB測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821791142.4
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號(hào): CN209247964U
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王洋
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州鐳晨智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/067
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 張碩

本實(shí)用新型涉及一種PCB測試機(jī)構(gòu)、測試壓板及PCB測試裝置，所述PCB測試機(jī)構(gòu)，包括測試基座，所述測試基座上有第一檢測探針和轉(zhuǎn)接探針，所述第一檢測探針用于與待測試PCB其中一側(cè)上的觸點(diǎn)抵接，所述第一檢測探針和轉(zhuǎn)接探針電性連接，所述轉(zhuǎn)接探針用于通過測試壓板將第一檢測探針獲取的檢測信息傳遞給測試系統(tǒng)；測試中，待測試PCB放置于測試基座上，測試壓板按壓待測試PCB，第一檢測探針與待測試PCB上靠近測試基座一側(cè)的觸點(diǎn)抵接，轉(zhuǎn)接探針通過測試壓板將第一檢測探針獲取的信息傳遞給測試系統(tǒng)。轉(zhuǎn)接探針的設(shè)置能夠在測試壓板按壓待測試PCB時(shí)，通過轉(zhuǎn)接探針與測試壓板的配合將第一檢測探針檢測到的信息傳遞給測試系統(tǒng)。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及PCB測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種PCB測試機(jī)構(gòu)、測試壓板及PCB測試裝置。

背景技術(shù)

對PCB的測試主要有耐壓測試、功能測試、老化測試等。為了完成這些測試，一般是在各個(gè)測試設(shè)備中對應(yīng)設(shè)置測試載板，通過將待測試的PCB對應(yīng)放置于各測試設(shè)備中的測試載板上來完成對應(yīng)各項(xiàng)測試。

一般的測試治具在待測試PCB的兩側(cè)分別設(shè)置探針，探針的一端用于與PCB上的觸點(diǎn)電性連接，探針的另一端用于與測試系統(tǒng)連接。

由于受到測試條件的限制，當(dāng)用于承載PCB的測試基座需要沿滑軌滑動(dòng)切換測試工位時(shí)，若是測試基座上的探針繼續(xù)沿用以導(dǎo)線連接測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)，導(dǎo)線上與測試基座上探針連接的端部需要隨測試基座移動(dòng)，如此導(dǎo)線與測試基座上探針的連接存在連接穩(wěn)定性差的問題。

實(shí)用新型內(nèi)容

基于此，本實(shí)用新型在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種PCB測試機(jī)構(gòu)、測試壓板及PCB測試裝置，來解決測試穩(wěn)定差的問題。

一種PCB測試機(jī)構(gòu)，包括測試基座，所述測試基座上有第一檢測探針和轉(zhuǎn)接探針，所述第一檢測探針用于與待測試PCB其中一側(cè)上的觸點(diǎn)抵接，所述第一檢測探針和轉(zhuǎn)接探針電性連接，所述轉(zhuǎn)接探針用于通過測試壓板將第一檢測探針獲取的檢測信息傳遞給測試系統(tǒng)。

上述PCB測試機(jī)構(gòu)，測試中，待測試PCB放置于測試基座上，測試壓板按壓待測試PCB，第一檢測探針與待測試PCB上靠近測試基座一側(cè)的觸點(diǎn)抵接，轉(zhuǎn)接探針通過測試壓板將第一檢測探針獲取的信息傳遞給測試系統(tǒng)。轉(zhuǎn)接探針的設(shè)置能夠在測試壓板按壓待測試PCB時(shí)，通過轉(zhuǎn)接探針與測試壓板的配合將第一檢測探針檢測到的信息傳遞給測試系統(tǒng)。轉(zhuǎn)接探針改變了第一檢測探針與測試系統(tǒng)的連接方式，通過轉(zhuǎn)接探針與測試壓板的配合能夠避免采用導(dǎo)線直接連接第一檢測探針與測試系統(tǒng)，使得測試基座的位置移動(dòng)不受導(dǎo)線的限制，方便了測試基座的移動(dòng)；同時(shí)由于第一檢測探針和測試系統(tǒng)的連接方式改變，改善了在采用導(dǎo)線連接第一檢測探針和測試系統(tǒng)時(shí)，導(dǎo)線連接穩(wěn)定性差的問題。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測試基座包括測試托盤和承載基座，所述測試托盤可在靠近承載基座的方向上移動(dòng)，所述第一檢測探針和轉(zhuǎn)接探針設(shè)置于承載基座上，所述測試托盤上開設(shè)有與第一檢測探針對應(yīng)的第一通孔和與轉(zhuǎn)接探針對應(yīng)的第二通孔；當(dāng)測試托盤處于第一位置時(shí)，所述第一檢測探針的端部伸出第一通孔并與待測試PCB上靠近承載基座一側(cè)的觸點(diǎn)抵接。需要檢測測試托盤上的待測試PCB時(shí)，測試壓板按壓測試托盤，使測試托盤位于第一位置，此時(shí)第一檢測探針與測試托盤上的待測試PCB的觸點(diǎn)抵接。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測試托盤上開設(shè)有用于安裝待測試PCB的安裝槽，所述第一通孔與所述安裝槽連通。安裝槽的設(shè)置能方便在測試托盤上對待測試PCB進(jìn)行安裝限位。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測試托盤上設(shè)有第一導(dǎo)桿，所述承載基座上固設(shè)有導(dǎo)套，所述第一導(dǎo)桿安裝于導(dǎo)套內(nèi)，所述測試托盤通過第一導(dǎo)桿和導(dǎo)套在靠近承載基座的方向上移動(dòng)。導(dǎo)套與第一導(dǎo)桿的配合能對限制測試托盤與承載基座之間的相對運(yùn)動(dòng)，保證第一檢測探針與第一通孔的配合精度、及轉(zhuǎn)接探針與第二通孔的配合精度，避免第一檢測探針及轉(zhuǎn)接探針與測試托盤發(fā)生干涉。