[實用新型]PCB測試機構、測試壓板及PCB測試裝置

有效

• 申請號: 201821791142.4
• 申請日: 2018-10-31
• 公開（公告）號: CN209247964U
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 王洋
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州鐳晨智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/067
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 張碩

1.一種PCB測試機構，其特征在于，包括測試基座，所述測試基座上有第一檢測探針和轉接探針，所述第一檢測探針用于與待測試PCB其中一側上的觸點抵接，所述第一檢測探針和所述轉接探針電性連接，所述轉接探針用于通過測試壓板將所述第一檢測探針獲取的檢測信息傳遞給測試系統。

2.根據權利要求1所述的PCB測試機構，其特征在于，所述測試基座包括測試托盤和承載基座，所述測試托盤可在靠近所述承載基座的方向上移動，所述第一檢測探針和所述轉接探針設置于所述承載基座上，所述測試托盤上開設有與所述第一檢測探針對應的第一通孔和與轉接探針對應的第二通孔；

當所述測試托盤處于第一位置時，所述第一檢測探針的端部伸出所述第一通孔并與待測試PCB上靠近所述承載基座一側的觸點抵接。

3.根據權利要求2所述的PCB測試機構，其特征在于，所述測試托盤上開設有用于安裝待測試PCB的安裝槽，所述第一通孔與所述安裝槽連通。

4.根據權利要求2所述的PCB測試機構，其特征在于，所述測試托盤上設有第一導桿，所述承載基座上固設有導套，所述第一導桿安裝于所述導套內，所述測試托盤通過第一導桿和所述導套在靠近承載基座的方向上移動。

5.根據權利要求1所述的PCB測試機構，其特征在于，還包括轉接電路板，所述第一檢測探針和所述轉接探針通過所述轉接電路板電性連接；

或還包括轉接導線，所述第一檢測探針和轉接探針通過所述轉接導線電性連接。

6.根據權利要求2所述的PCB測試機構，其特征在于，所述測試托盤與所述承載基座間設有彈性緩沖件，所述彈性緩沖件的一端與所述測試托盤抵接，所述彈性緩沖件的另一端與所述承載基座抵接。

7.根據權利要求2所述的PCB測試機構，其特征在于，還包括滑軌，沿所述滑軌設有至少兩個操作工位，所述承載基座滑動安裝于所述滑軌上，所述承載基座可沿所述滑軌移動切換操作工位。

8.根據權利要求7所述的PCB測試機構，其特征在于，還包括輔助支撐座，所述輔助支撐座設置于所述承載基座滑動方向的一側，所述輔助支撐座與所述滑軌位置相對固定，所述輔助支撐座用于分攤所述承載基座作用在所述滑軌上的載荷。

9.根據權利要求8所述的PCB測試機構，其特征在于，所述測試托盤設有與所述承載基座對應的第一檢測區和與所述輔助支撐座對應的第二檢測區，所述第一通孔和所述第二通孔開設于所述第一檢測區；

所述輔助支撐座上設有用于與測試系統電性連接的第三檢測探針，所述第二檢測區開設有與第三檢測探針對應的第三通孔；

當所述測試托盤處于第一位置時，所述第三檢測探針的端部通過所述第三通孔凸出于測試托盤并與待測試PCB上的觸點抵接；

當所述測試托盤處于第二位置時，所述第三檢測探針退出第三通孔。

10.根據權利要求9所述的PCB測試機構，其特征在于，所述輔助支撐座上設第二導桿，所述測試托盤上開設有位于所述第二檢測區內的導向孔，所述第二導桿安裝于所述導向孔內，所述測試托盤沿所述第二導桿在靠近所述承載基座的方向上移動；

當所述測試托盤處于第一位置時，所述第二導桿位于所述導向孔內；

當所述測試托盤處于第二位置時，所述第二導桿退出所述導向孔。