[實用新型]一種芯片生產制造用冷卻裝置有效
| 申請號: | 201821689780.5 | 申請日: | 2018-10-18 |
| 公開(公告)號: | CN209087775U | 公開(公告)日: | 2019-07-09 |
| 發明(設計)人: | 王飛;羅志云 | 申請(專利權)人: | 恒泰柯半導體(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/683;H01L21/673 |
| 代理公司: | 上海宏京知識產權代理事務所(普通合伙) 31297 | 代理人: | 趙霞 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區中國(*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 冷卻 本實用新型 冷卻裝置 芯片固定 芯片生產 楔形塊 保證 芯片制造技術 四邊 芯片放置槽 圓形定位塊 通風口 復位彈簧 冷卻效果 冷卻循環 離子風扇 雙重作用 芯片引腳 直接冷卻 自動打開 放置臺 冷凝管 中芯片 風扇 抵住 鎖口 向后 制造 取出 封閉 脫離 掀起 移動 | ||
1.一種芯片生產制造用冷卻裝置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)一側固定設置有置扇腔(2),所述置扇腔(2)內部一側壁固定設置有離子風扇(3),所述底座(1)上端面開設芯片放置槽(4),所述芯片放置槽(4)上端留有芯片放置臺(5),所述底座(1)上端面設置有固定塊(6),所述固定塊(6)對應位置間安裝有固定桿(7),所述固定桿(7)外套接有芯片固定蓋(8),所述固定桿(7)上套有復位彈簧一(9),所述芯片固定蓋(8)上固定設置有定位塊(10),所述芯片放置槽(4)的一端側面開槽放置有L塊(11),所述芯片固定蓋(8)上開設有方形通槽(12),所述方形通槽(12)內橫向設置有限位凸臺(13)、圓桿(14)、固定軸(15),所述固定軸(15)上活動安裝有楔形塊(16),所述圓桿(14)上安裝有復位彈簧二(17),所述底座(1)上端與方形通槽(12)對應位置開設有鎖口槽(18),所述鎖口槽(18)內設置有鎖口臺(19)。
2.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述離子風扇(3)電性連接。
3.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述置扇腔(2)內部與底座(1)接觸的面開設蓄風口(201),所述蓄風口(201)的上部分與芯片放置槽(4)對應的位置開設出風口(202)。
4.根據權利要求3所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述出風口(202)呈由大到小的直角梯形結構。
5.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述復位彈簧一(9)的一端抵著芯片固定蓋(8),一端抵著底座(1),所述復位彈簧二(17)一端抵著楔形塊(16),一端抵著限位凸臺(13)。
6.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述芯片固定蓋(8)上開設方形通風口。
7.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述定位塊(10)為均勻設置在芯片固定蓋(8)的四個小圓塊。
8.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述L塊(11)設置在芯片放置槽(4)上與芯片固定蓋(8)的轉動端位置相反的一端,所述芯片固定蓋(8)上對應L塊(11)位置開設有凹槽(801)。
9.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述圓桿(14)設置在限位凸臺(13)的上端,所述固定軸(15)設置在與限位凸臺(13)相對的位置,所述方形通槽(12)與楔形塊(16)所接觸的一面的下端開設轉動槽(1201)。
10.根據權利要求1所述的一種芯片生產制造用冷卻裝置,其特征在于:所述鎖口槽(18)的寬度大于楔形塊(16)的寬度,所述鎖口臺(19)與限位凸臺(13)的寬度一致。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于恒泰柯半導體(上海)有限公司,未經恒泰柯半導體(上海)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821689780.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種芯片制造過程中檢測晶圓破裂處的裝置
- 下一篇:一種易拆裝半導體熱封刀
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





