[實用新型]一種多孔零件專用檢具組件

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821670063.8
• 申請日: 2018-10-15
• 公開（公告）號: CN208736287U
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 董華俊
• 申請（專利權(quán)）人: TOWA半導(dǎo)體設(shè)備（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛(wèi);陳婷婷

本實用新型公開了一種多孔零件專用檢具組件，待測零件具有多個間隔分布的通孔，每個通孔沿待測零件的厚度方向貫穿，檢具組件至少包括第一檢具，第一檢具沿長度方向的兩端各設(shè)有一個長度限位塊，兩個長度限位塊的間距為待測零件長度的最大公差值，第一檢具沿寬度方向的兩端各設(shè)有一個第一寬度限位塊，兩個第一寬度限位塊的間距為待測零件寬度的最大公差值，第一檢具上沿長度方向間隔地設(shè)置有多個與待測零件的通孔位置一一對應(yīng)的定位孔，第一檢具上沿第一檢具寬度方向的兩端還各設(shè)置有一對第二寬度限位塊，兩個第二寬度限位塊的間距為待測零件寬度的最小公差值。該檢具組件能夠快速地檢查出待測零件是否滿足加工要求，提高了檢測效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及一種多孔零件專用檢具組件。

背景技術(shù)

如圖1和圖2所示為實際生產(chǎn)中的一種待測零件300，該待測零件為長方體，需要保證其長、寬、高（依次分別對應(yīng)于圖中的尺寸a、尺寸b和尺寸c）滿足公差要求，同時待測零件300還具有多個沿長度方向間隔分別的通孔，如圖1所示的第一孔301、第二孔302，這些通孔的尺寸與孔位也有較高的公差要求，現(xiàn)有技術(shù)品檢人員利用游標卡尺對各個尺寸進行測量，由于需要測量的尺寸較多，檢查的效率極低，且容易出錯。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型的目的是提供一種多孔零件專用檢具組件，能夠高效地檢測出零件是否合格。

為達到上述目的，本實用新型采用的技術(shù)方案是：一種多孔零件專用檢具組件，待測零件具有多個沿長度方向間隔分布的通孔，每個所述通孔沿所述待測零件的厚度方向貫穿，所述檢具組件至少包括第一檢具，所述第一檢具沿長度方向的兩端各設(shè)有一個長度限位塊，兩個所述長度限位塊的間距為所述待測零件長度的最大公差值，所述第一檢具沿寬度方向的兩端各設(shè)有一個第一寬度限位塊，兩個所述第一寬度限位塊的間距為所述待測零件寬度的最大公差值，所述長度限位塊和所述第一寬度限位塊自同一平面向同一個方向豎立延伸，該平面構(gòu)成第一基準面，所述第一檢具上沿長度方向間隔地設(shè)置有多個定位孔，所有的所述定位孔均位于兩個所述長度限位塊之間，且所述定位孔與所述待測零件的所述通孔位置一一對應(yīng)，

所述第一檢具上沿第一檢具寬度方向的兩端還各設(shè)置有一對第二寬度限位塊，兩個所述第二寬度限位塊的間距為所述待測零件寬度的最小公差值，兩個所述第二寬度限位塊自同一平面向同一個方向豎立延伸，該平面構(gòu)成第二基準面，所述第一基準面和第二基準面為所述第一檢具上相異的兩個面。

優(yōu)選地，所述長度限位塊相對于所述第一基準面的高度小于所述第一寬度限位塊相對于所述第一基準面的高度。

優(yōu)選地，所述定位孔沿一直線排列，兩個所述第一寬度限位塊關(guān)于該直線對稱設(shè)置。

優(yōu)選地，所述定位孔設(shè)置有三個，其中排在中間的所述定位孔設(shè)置為螺紋孔，其余兩個所述定位孔設(shè)置為銷孔。

優(yōu)選地，所述長度限位塊與兩側(cè)的所述第一寬度限位塊之間存在間距。

優(yōu)選地，所述多孔零件專用檢具組件由NAK55鋼制成，所述檢具表面設(shè)置有鉻層。

優(yōu)選地，所述專用檢具組件還包括第二檢具，所述第二檢具設(shè)有一對第一高度限位塊和一對第二高度限位塊，兩個所述第一高度限位塊的間距為所述待測零件高度的最大公差值，兩個所述第二高度限位塊的間距為所述待測零件高度的最小公差值。

由于上述技術(shù)方案的運用，本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點：本實用新型的一種多孔零件專用檢具組件，通過長度限位塊和兩組寬度限位塊能夠測量待測零件的外輪廓是否滿足設(shè)計要求，同時第一基準面上的定位孔能夠判斷待測零件孔位是否準確，因此該檢具組件能夠快速地檢查出待測零件是否滿足加工要求，提高了檢測效率。

附圖說明

附圖1為待測零件的正視圖；

附圖2為待測零件的俯視圖；