[實用新型]一種多孔零件專用檢具組件

有效

• 申請號: 201821670063.8
• 申請日: 2018-10-15
• 公開（公告）號: CN208736287U
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發明（設計）人: 董華俊
• 申請（專利權）人: TOWA半導體設備（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛;陳婷婷

1.一種多孔零件專用檢具組件，待測零件（300）具有多個沿長度方向間隔分布的通孔，每個所述通孔沿所述待測零件（300）的厚度方向貫穿，其特征在于：所述檢具組件至少包括第一檢具（100），所述第一檢具（100）沿長度方向的兩端各設有一個長度限位塊（2），兩個所述長度限位塊（2）的間距為所述待測零件（300）長度的最大公差值，所述第一檢具（100）沿寬度方向的兩端各設有一個第一寬度限位塊（1），兩個所述第一寬度限位塊（1）的間距為所述待測零件（300）寬度的最大公差值，所述長度限位塊（2）和所述第一寬度限位塊（1）自同一平面向同一個方向豎立延伸，該平面構成第一基準面（101），所述第一檢具上沿長度方向間隔地設置有多個定位孔，所有的所述定位孔均位于兩個所述長度限位塊（2）之間，且所述定位孔（4）與所述待測零件（300）的所述通孔位置一一對應，

所述第一檢具（100）上沿第一檢具（100）寬度方向的兩端還各設置有一對第二寬度限位塊（3），兩個所述第二寬度限位塊（3）的間距為所述待測零件（300）寬度的最小公差值，兩個所述第二寬度限位塊（3）自同一平面向同一個方向豎立延伸，該平面構成第二基準面（102），所述第一基準面（101）和第二基準面（102）為所述第一檢具（100）上相異的兩個面。

2.根據權利要求1所述的一種多孔零件專用檢具組件，其特征在于：所述長度限位塊（2）相對于所述第一基準面（101）的高度小于所述第一寬度限位塊（1）相對于所述第一基準面（101）的高度。

3.根據權利要求1所述的一種多孔零件專用檢具組件，其特征在于：所述定位孔（4）沿一直線排列，兩個所述第一寬度限位塊（1）關于該直線對稱設置。

4.根據權利要求1所述的一種多孔零件專用檢具組件，其特征在于：所述定位孔（4）設置有三個，其中排在中間的所述定位孔（4）設置為螺紋孔，其余兩個所述定位孔（4）設置為銷孔。

5.根據權利要求1所述的一種多孔零件專用檢具組件，其特征在于：所述長度限位塊（2）與兩側的所述第一寬度限位塊（1）之間存在間距。

6.根據權利要求1所述的一種多孔零件專用檢具組件，其特征在于：所述多孔零件專用檢具組件由NAK55鋼制成，所述檢具表面設置有鉻層。

7.根據權利要求1所述的一種多孔零件專用檢具組件，其特征在于：所述專用檢具組件還包括第二檢具（200），所述第二檢具（200）設有一對第一高度限位塊（5）和一對第二高度限位塊（6），兩個所述第一高度限位塊（5）的間距為所述待測零件（300）高度的最大公差值，兩個所述第二高度限位塊（6）的間距為所述待測零件（300）高度的最小公差值。