[實用新型]一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821632085.5 | 申請日： | 2018-10-09 |
| 公開（公告）號： | CN209280512U | 公開（公告）日： | 2019-08-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李星輝;吳豪 | 申請（專利權(quán)）人： | 清華大學(xué)深圳研究生院 |
| 主分類號： | G01N15/04 | 分類號： | G01N15/04 |
| 代理公司： | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人： | 梁嘉琦 |
| 地址： | 518000 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電離 顆粒物 測量模塊 質(zhì)量測量裝置 沉降 濾膜 測量 頻率測量裝置 質(zhì)量檢測裝置 本實用新型 高壓放電針 測量石英 電極參數(shù) 電離空氣 電離區(qū)域 石英晶片 數(shù)據(jù)基礎(chǔ) 諧振頻率 集塵極 帶電 附著 晶片 石英 | ||
本實用新型公開了一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置。包括用于電離空氣的電離模塊和用于測量的測量模塊。電離模塊包括電離區(qū)域和高壓放電針，測量模塊包括帶電的石英晶片和濾膜，還包括測量石英晶片諧振頻率的頻率測量裝置和測量濾膜中顆粒物質(zhì)量的質(zhì)量檢測裝置。電離模塊與測量模塊連接，使顆粒物電離后能附著于用作集塵極的石英晶片中，為最佳電極參數(shù)的確定提供了數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及環(huán)保檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置。
背景技術(shù)
目前，人們對空氣質(zhì)量的關(guān)注逐漸提高，尤其是對PM2.5和PM10等顆粒物的含量十分關(guān)注，在測量顆粒物含量時，通常采用靜電沉降方法對顆粒物的沉降效率進(jìn)行測量。雖然目前的測量設(shè)備能夠測量出在一定條件下的沉降效率，但當(dāng)不同地方的空氣中顆粒物含量不同時，目前的測量設(shè)備無法根據(jù)實際顆粒物含量而作出調(diào)整，從而容易出現(xiàn)沉降不完全或者沉降過度導(dǎo)致資源浪費(fèi)。
實用新型內(nèi)容
為解決上述問題，本實用新型的目的在于提供一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置，在實際應(yīng)用能夠檢測不同電極參數(shù)條件下顆粒物的沉降質(zhì)量，為確定最佳電極參數(shù)積累數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。
本實用新型解決其問題所采用的技術(shù)方案是：一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置，包括：用于電離空氣的電離模塊和用于測量沉降顆粒物的質(zhì)量變化值的測量模塊；
所述電離模塊包括電離區(qū)域和設(shè)置于電離區(qū)域中的高壓放電針；
所述測量模塊包括帶電的石英晶片和用于測量石英晶片的諧振頻率的頻率測量裝置，所述石英晶片設(shè)置于電離區(qū)域下側(cè)；還包括用于收集未被沉降顆粒物的濾膜和用于測量濾膜中顆粒物質(zhì)量的質(zhì)量檢測裝置。
進(jìn)一步，還包括靜電沉降流道，所述靜電沉降流道形成所述的電離區(qū)域；所述靜電沉降流道表面設(shè)置有微孔，所述高壓放電針通過微孔插入至所述靜電沉降流道內(nèi)部。
進(jìn)一步，還包括殼體，所述測量模塊設(shè)置于殼體上端，所述靜電沉降流道下端與殼體相連接。
進(jìn)一步，所述石英晶片的表面設(shè)置有導(dǎo)電金屬片。
進(jìn)一步，還包括晶片托盤，所述石英晶片設(shè)置于晶片托盤中。
進(jìn)一步，所述晶片托盤的上側(cè)設(shè)有通孔，所述通孔的形狀與所述石英晶片的上表面的導(dǎo)電金屬片相同。
進(jìn)一步，還包括用于將空氣吸入電離區(qū)域的空氣泵，所述空氣泵通過泵接口與濾膜相連接。
進(jìn)一步，還包括用于提供電壓的供電探針，所述供電探針與導(dǎo)電金屬片相連接。
本實用新型的有益效果是：本實用新型采用一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置。設(shè)置電離模塊對空氣進(jìn)行電離，并通過設(shè)置于電離模塊相連接的測量模塊檢測出質(zhì)量變化值，實現(xiàn)對沉降于其中的顆粒物質(zhì)量的質(zhì)量檢測，并利用質(zhì)量變化值計算出沉降效率，為驗證最佳電極參數(shù)提供了數(shù)據(jù)基礎(chǔ)，并且本裝置分模塊安裝，有效提高了實際應(yīng)用的便利性。
附圖說明
下面結(jié)合附圖和實例對本實用新型作進(jìn)一步說明。
圖1是本實用新型一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置的裝置分解示意圖；
圖2是本實用新型一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置的第一實施例的裝置示意圖；
圖3是本實用新型一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置的第一實施例的靜電沉降流體的結(jié)構(gòu)圖；
圖4是本實用新型一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置的第一實施例的高壓放電針的結(jié)構(gòu)圖；
圖5是本實用新型一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置的第一實施例的石英晶片的結(jié)構(gòu)圖；
圖6是本實用新型一種顆粒物沉降質(zhì)量測量裝置的第一實施例的晶片托盤的結(jié)構(gòu)圖；
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