[實(shí)用新型]一種帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821590834.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN209167170U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-07-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程躍;武倩;鮑晉珍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海恩捷新材料科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/2204 | 分類號(hào): | G01N23/2204;G01N23/2251 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明偉 |
| 地址: | 201399 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 夾持 掃描電鏡樣品 臺(tái)座 夾持部件 夾持機(jī)構(gòu) 本實(shí)用新型 驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu) 固定塊 樣品臺(tái) 松開(kāi) 自鎖 工作臺(tái)表面 工作臺(tái)側(cè)壁 待測(cè)樣品 對(duì)稱分布 伸縮運(yùn)動(dòng) 旋轉(zhuǎn)螺栓 夾持板 工作臺(tái) 插槽 插桿 伸出 驅(qū)動(dòng) | ||
本實(shí)用新型提供一種帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座,所述掃描電鏡樣品臺(tái)座至少包括:工作臺(tái),所述工作臺(tái)表面設(shè)有兩個(gè)對(duì)稱分布的固定塊;夾持機(jī)構(gòu),包括一對(duì)夾持部件,分別固定在兩個(gè)固定塊上,通過(guò)所述夾持部件對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行夾持和松開(kāi);驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),設(shè)置于所述工作臺(tái)側(cè)壁上,利用所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述夾持部件進(jìn)行伸縮運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)所述待測(cè)樣品的夾持和松開(kāi)。利用本實(shí)用新型的掃描電鏡樣品臺(tái)座來(lái)夾持樣品,操作簡(jiǎn)單方便,夾持效果好,根據(jù)樣品臺(tái)的大小,可以旋轉(zhuǎn)螺栓調(diào)節(jié)插桿伸出插槽的距離,使對(duì)各種大小樣品臺(tái)的夾持效果達(dá)到最佳,根據(jù)樣品的形狀更換夾持板,從而提高夾持效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于掃描電鏡技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座。
背景技術(shù)
掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是,①有較高的放大倍數(shù),且連續(xù)可調(diào);②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);③試樣制備簡(jiǎn)單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器之一。
現(xiàn)有技術(shù)中在使用掃描電鏡前需要將樣品臺(tái)放置在掃描電鏡樣品臺(tái)座上,現(xiàn)有的技術(shù)夾持速度慢,且?jiàn)A持效果不是很好。
實(shí)用新型內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本實(shí)用新型的目的在于提供一種帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中掃描電鏡樣品臺(tái)座夾持樣品速度慢,且?jiàn)A持效果不佳的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本實(shí)用新型提供一種帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座,所述掃描電鏡樣品臺(tái)座至少包括:
工作臺(tái),表面設(shè)有兩個(gè)對(duì)稱分布的固定塊;
夾持機(jī)構(gòu),包括一對(duì)夾持部件,分別固定在兩個(gè)所述固定塊上,通過(guò)所述夾持部件對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行夾持和松開(kāi);
驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),設(shè)置于所述工作臺(tái)側(cè)壁上行,利用所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)所述夾持部件進(jìn)行伸縮運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)所述待測(cè)樣品的夾持和松開(kāi)。
作為本實(shí)用新型帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座的一種優(yōu)化的結(jié)構(gòu),所述夾持部件包括:
空腔,開(kāi)設(shè)于所述固定塊中;
移動(dòng)板,設(shè)置于所述空腔中;
彈簧,一端固定于所述空腔內(nèi)壁上,另一端與所述移動(dòng)板固定連接;
移動(dòng)桿,一端與所述移動(dòng)板連接,另一端穿過(guò)所述空腔伸出于所述固定塊外;
夾持板,與所述移動(dòng)桿伸出于所述固定塊外的一端相連。
作為本實(shí)用新型帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座的一種優(yōu)化的結(jié)構(gòu),所述夾持部件還包括連接結(jié)構(gòu),所述夾持板與所述移動(dòng)桿伸出于所述固定塊外的一端通過(guò)所述連接結(jié)構(gòu)相連,所述連接結(jié)構(gòu)包括:
插槽,開(kāi)設(shè)于所述移動(dòng)桿中;
插桿,插設(shè)于所述插槽中,所述插桿的一端伸出于所述插槽并與所述夾持板固定連接;
螺栓,一端貫穿所述移動(dòng)桿至所述插槽內(nèi)并與所述插桿貼合相連,另一端露于所述移動(dòng)桿表面。
作為本實(shí)用新型帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座的一種優(yōu)化的結(jié)構(gòu),所述插槽的內(nèi)壁開(kāi)設(shè)有滑槽,所述滑槽中設(shè)有與所述插桿固定連接且用于限制所述插桿及所述夾持板偏轉(zhuǎn)的限位板。
作為本實(shí)用新型帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座的一種優(yōu)化的結(jié)構(gòu),所述夾持板用于接觸夾持待測(cè)樣品的表面上固定有橡膠墊。
作為本實(shí)用新型帶有自鎖夾持機(jī)構(gòu)的掃描電鏡樣品臺(tái)座的一種優(yōu)化的結(jié)構(gòu),所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括:
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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