[實用新型]一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置及具有其的檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821551020.8
• 申請日: 2018-09-21
• 公開（公告）號: CN208907882U
• 公開（公告）日: 2019-05-28
• 發(fā)明（設計）人: 丁忠明;武慧;唐起波
• 申請（專利權）人: 上海博物館;上海恩迪檢測控制技術有限公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046
• 代理公司: 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊倫

1.一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，包括：

載物臺，用于放置待檢物；

X軸微調(diào)機構(gòu)，連接在所述載物臺下端，用于沿X軸方向移動所述載物臺；

Y軸微調(diào)機構(gòu)，連接在所述X軸微調(diào)機構(gòu)下端，用于沿Y軸方向移動X軸微調(diào)機構(gòu)從而改變所述載物臺的位置。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，還包括：

連接部件，連接部件的一端連接在Y軸微調(diào)機構(gòu)，另一端用于與無損檢測裝置的旋轉(zhuǎn)臺連接。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，

所述連接部件包括連接軸和用于與旋轉(zhuǎn)臺可拆卸連接的下安裝臺，所述連接軸的上端與Y軸微調(diào)機構(gòu)連接，所述連接軸的下端連接有所述下安裝臺。

4.根據(jù)權利要求3所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，還包括：

滑環(huán)，套設在所述連接軸上且位于所述Y軸直線滑臺和所述下安裝臺之間。

5.根據(jù)權利要求4所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，所述滑環(huán)包括：

內(nèi)環(huán)，與所述連接軸固定連接且能隨所述連接軸同步旋轉(zhuǎn)；

外環(huán)，與所述內(nèi)環(huán)滑動連接，所述外環(huán)上連接有外環(huán)固定部件，所述外環(huán)固定部件的一端與外環(huán)連接，另一端固定連接在旋轉(zhuǎn)臺下方的固定臺上。

6.根據(jù)權利要求5所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，所述外環(huán)固定部件包括：

固定塊，所述固定塊的一端連接在外環(huán)上，另一端開設有卡口；

連接板，所述連接板的一端連接有與所述卡口適配的插銷，另一端開設有卡接槽；

固定板，所述固定板的一端固定連接在旋轉(zhuǎn)臺下方的固定臺上，另一端正對所述連接板的一側(cè)連接有與所述卡接槽相適配的鎖緊桿。

7.根據(jù)權利要求6所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，還包括：

防護罩，圍罩在載物臺上且將所述X軸微調(diào)機構(gòu)、所述Y軸微調(diào)機構(gòu)和所述滑環(huán)包裹。

8.根據(jù)權利要求1至7任一項所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，

所述X軸微調(diào)機構(gòu)為X軸直線滑臺，所述Y軸微調(diào)機構(gòu)為Y軸直線滑臺，所述X軸直線滑臺滑動連接在所述Y軸直線滑臺上構(gòu)成十字滑臺結(jié)構(gòu)。

9.根據(jù)權利要求8所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，

所述X軸直線滑臺和Y軸直線滑臺上均設有行程開關。

10.一種用于射線無損檢測的無損檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括上述權利要求1至9任一項所述的用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，還包括射線源系統(tǒng)、探測系統(tǒng)、機械掃描系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集傳輸系統(tǒng)、圖像處理系統(tǒng)和控制系統(tǒng)，且所述射線源系統(tǒng)、所述探測系統(tǒng)、所述機械掃描系統(tǒng)、所述數(shù)據(jù)采集傳輸系統(tǒng)、所述圖像處理系統(tǒng)均與所述控制系統(tǒng)連接，所述用于射線無損檢測的微調(diào)裝置安裝在所述機械掃描系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺上。