[實用新型]一種X射線的檢測系統

有效

• 申請號: 201821527807.0
• 申請日: 2018-09-18
• 公開（公告）號: CN209014494U
• 公開（公告）日: 2019-06-21
• 發明（設計）人: 張麗;陳志強;孫運達;金鑫;常銘;許曉飛
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01N23/20008
• 分類號: G01N23/20008
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 彭瓊

本實用新型實施例公開了一種X射線的檢測系統，檢測系統包括：光源發生器、第一探測器、第二探測器、準直器和處理器；第一探測器和第二探測器在待探測物體的傳動方向上交替排布；光源發生器，用于發射多列光束信號，每列光束信號包括多條光束信號；第一探測器，用于接收透過待探測物體后的多列透射光束信號；準直器，用于對透過待探測物體后的多列散射光束信號進行特異性選擇；第二探測器，用于接收經準直設備選擇后的散射光束信號；處理器，用于依據多列透射光束信號和選擇后的散射光束信號，確定待探測物體的檢測結果。

技術領域

本實用新型涉及X射線檢測領域，尤其涉及一種X射線的檢測系統。

背景技術

準確檢出違禁品是公共安檢的重點和難點，傳統透射成像技術不能提供分子結構信息，存在局限性。X射線衍射(X-ray diffraction，XRD)技術可提供物質分子層面的結構信息，具有很強的特異性，因此通過檢測物質的衍射光譜可以識別物質。目前的XRD檢測系統一般包括：光源、探測器與準直系統，利用該XRD技術檢測違禁品，可彌補其他傳統技術的不足，有助于提高識別準確率。

但是，目前的檢測系統存在對散射光束信號的收集效率低等問題。

發明內容

本實用新型實施例提供一種X射線的檢測系統，可以提高對散射光束信號的收集效率，進而提高檢測系統的檢測效率。

根據本實用新型實施例的第一方面，提供一種X射線的檢測系統，該檢測系統包括：

光源發生器、第一探測器、第二探測器、準直設備和處理器；

所述第一探測器和所述第二探測器在待檢測物體的傳動方向上交替排布；

所述光源發生器，用于發射多列光束信號，每列光束信號包括多條光束信號；

所述第一探測器，用于接收透過所述待檢測物體后的多列透射光束信號；

所述準直設備，用于對透過所述待檢測物體后的多列散射光束信號進行特異性選擇；

所述第二探測器，用于接收經所述準直設備選擇后的散射光束信號；

所述處理器，用于依據所述多列透射光束信號和選擇后的所述散射光束信號，確定所述待檢測物體的檢測結果。

根據本實用新型實施例中的檢測系統，由于使用了多列光束信號，以及第一探測器和第二探測器在待檢測物體的傳動方向上交替排布，使得在單位時間內收集到的散射光束信號中的光子數大大提高，即提高了對散射光束信號的收集效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案，下面將對本實用新型實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是示出本實用新型實施例的X射線的檢測系統的架構示意圖；

圖2是示出本實用新型實施例光源發生器的光束信號入射點平面的示意圖；

圖3是示出本實用新型實施例中第一探測器和第二探測器的排布示意圖；

圖4是示出本實用新型實施例中散射光束信號的示意圖；

圖5是示出本實用新型實施例中待檢測物體的位置示意圖；

圖6是示出本實用新型實施例提供的檢測方法的流程示意圖。

具體實施方式