[實用新型]一種X射線的檢測系統有效
| 申請號： | 201821527807.0 | 申請日： | 2018-09-18 |
| 公開（公告）號： | CN209014494U | 公開（公告）日： | 2019-06-21 |
| 發明（設計）人： | 張麗;陳志強;孫運達;金鑫;常銘;許曉飛 | 申請（專利權）人： | 同方威視技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/20008 | 分類號： | G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258 | 代理人： | 彭瓊 |
| 地址： | 100084 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 多列 第二探測器 第一探測器 檢測系統 散射光束 探測 光源發生器 光束信號 透射光束 準直器 處理器 本實用新型 傳動方向 多條光束 檢測結果 交替排布 準直設備 發射 | ||
1.一種X射線的檢測系統，其特征在于，所述檢測系統包括：
光源發生器、第一探測器、第二探測器、準直設備和處理器；
所述第一探測器和所述第二探測器在待探測物體的傳動方向上交替排布；
所述光源發生器，用于發射多列光束信號，每列光束信號包括多條光束信號；
所述第一探測器，用于接收透過所述待探測物體后的多列透射光束信號；
所述準直設備，用于對透過所述待探測物體后的多列散射光束信號進行特異性選擇；
所述第二探測器，用于接收經所述準直設備選擇后的散射光束信號；
所述處理器，用于依據所述多列透射光束信號和選擇后的所述散射光束信號，確定所述待探測物體的檢測結果。
2.根據權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，所述光源發生器的光束信號發射方向為三維笛卡爾坐標系的X軸的正方向，待檢測物體的傳動方向為三維笛卡爾坐標系的Y軸。
3.根據權利要求2所述的檢測系統，其特征在于，所述多列光束信號的入射平面是YOZ平面，且在所述YOZ平面上的入射點呈二維離散分布。
4.根據權利要求3所述的檢測系統，其特征在于，所述多列光束信號的入射點在三維笛卡爾坐標系的Z軸上是等間距排布，且在Y軸上是等間距分布或者不等間距分布。
5.根據權利要求4所述的檢測系統，其特征在于，所述Y軸上間距是由所述待檢測物體的傳動速度、所述第一探測器曝光時間和所述第二探測器曝光時間確定的距離。
6.根據權利要求4所述的檢測系統，其特征在于，所述列光束信號的入射點形成的直線與所述Z軸平行。
7.根據權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，所述第一探測器包括：至少2個雙能透射探測器。
8.根據權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，所述第二探測器包括：至少1個光子計數散射探測器。
9.根據權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，所述第一探測器與所述光源發生器正相對。
10.根據權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，所述準直設備包括：準直器或編碼板，所述編碼板或所述準直器與所述第二探測器正相對。
11.根據權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，所述第二探測器設置在相鄰的兩個所述第一探測器之間。
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