[實用新型]一種光源檢測校正系統

有效

• 申請號: 201821389455.7
• 申請日: 2018-08-27
• 公開（公告）號: CN208705006U
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 王立偉;代云啟;許穆嵐;李東東;姚維
• 申請（專利權）人: 科大國盾量子技術股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

本實用新型提供了一種光源檢測校正系統，包括耦合器、濾波器、探測器和控制器；耦合器將光源出射的部分光線傳輸至濾波器，濾波器對部分光線進行濾波，并將部分光線傳輸至探測器，探測器對部分光線的光強進行探測后，將探測到的光強值傳輸至控制器，控制器根據探測到的光強值判斷光源是否出現漂移，并在判定光源出現漂移后，對光源進行校正。采用本實用新型提供的光源檢測校正系統，可以及時地發現光源的漂移情況，及時地對漂移情況進行校正，且能夠極大地降低光源漂移校正的周期和繁瑣度。

技術領域

本實用新型涉及光通信及量子通信技術領域，更具體地說，涉及一種光源檢測校正系統。

背景技術

激光器注入鎖定技術大多應用于光通信和量子通信技術領域，主要用于提高半導體激光器的調制帶寬以及強注入鎖定時激光器表現的雙穩態、四波混頻等非線性效應。

在量子通信技術領域，由于QKD(Quantum Key Distribution，量子密鑰分配)系統中多臺激光器存在波長不一致性的問題以及單臺激光器存在光脈沖質量不佳的問題，因此，會導致QKD系統出現安全漏洞以及性能較差的問題，而采用注入鎖定技術可以很好地克服這一問題。

但是，在實際應用中，激光器經常會受溫度等因素的影響而出現漂移的情況，影響注入鎖定的效果和質量，現有技術中大多是采用光譜儀等儀器對激光器進行重新調試校正，但是，這種調試校正方法不能及時地發現激光器的漂移，也不能及時地對激光器的漂移進行校正，不利于激光器的應用。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型提供了一種光源檢測校正系統，以及時地發現激光器等光源的漂移，并及時地對漂移情況進行校正。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

一種光源檢測校正系統，包括耦合器、濾波器、探測器和控制器；

所述耦合器與所述濾波器連接，用于將光源出射的部分光線傳輸至所述濾波器，以實現所述光源的在線檢測；

所述濾波器與所述探測器連接，用于對所述部分光線進行濾波，并將所述部分光線傳輸至所述探測器；所述濾波器的帶寬與所述光源的光譜線寬相匹配；

所述探測器與所述控制器連接，用于對所述部分光線的光強進行探測，并將探測到的光強值傳輸至所述控制器；

所述控制器用于根據所述探測到的光強值判斷所述光源是否出現漂移，并在判定所述光源出現漂移后，對所述光源進行校正。

可選地，所述控制器根據所述探測到的光強值判斷所述光源是否出現漂移包括判斷所述光強值是否在預設的閾值范圍內，若是，則所述光源未出現漂移，若否，則所述光源出現漂移；

所述控制器對所述光源進行校正包括對所述光源進行溫度微調，或者，對所述光源進行延時微調和溫度微調。

可選地，所述光源為注入鎖定光源，所述注入鎖定光源包括主激光器、從激光器和環形器；

所述環形器的第一端與所述主激光器連接，所述環形器的第二端與所述從激光器連接，所述環形器的第三端與所述耦合器連接；

所述環形器用于將所述主激光器出射的激光傳輸至所述從激光器中，以對所述從激光器的出射激光進行注入鎖定；

所述環形器還用于將所述從激光器出射的激光傳輸至所述耦合器，以使所述耦合器將所述從激光器出射的激光中的部分光線傳輸至所述濾波器。

可選地，所述探測器為單光子探測器；所述控制器為FPGA芯片、MCU或微型CPU。

可選地，還包括功率檢測電路；

所述探測器探測到的光強值經過所述功率檢測電路檢測后傳輸至所述控制器。