[實用新型]一種光源檢測校正系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821389455.7 | 申請日： | 2018-08-27 |
| 公開（公告）號： | CN208705006U | 公開（公告）日： | 2019-04-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王立偉;代云啟;許穆嵐;李東東;姚維 | 申請（專利權(quán)）人： | 科大國盾量子技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人： | 王寶筠 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 漂移 光源 濾波器 光源檢測 校正系統(tǒng) 控制器 探測器 光強 校正 本實用新型 探測 光線傳輸 耦合器 出射 濾波 判定 傳輸 發(fā)現(xiàn) | ||
1.一種光源檢測校正系統(tǒng)，其特征在于，包括耦合器、濾波器、探測器和控制器；
所述耦合器與所述濾波器連接，用于將光源出射的部分光線傳輸至所述濾波器，以實現(xiàn)所述光源的在線檢測；
所述濾波器與所述探測器連接，用于對所述部分光線進行濾波，并將所述部分光線傳輸至所述探測器；所述濾波器的帶寬與所述光源的光譜線寬相匹配；
所述探測器與所述控制器連接，用于對所述部分光線的光強進行探測，并將探測到的光強值傳輸至所述控制器；
所述控制器用于根據(jù)所述探測到的光強值判斷所述光源是否出現(xiàn)漂移，并在判定所述光源出現(xiàn)漂移后，對所述光源進行校正。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制器根據(jù)所述探測到的光強值判斷所述光源是否出現(xiàn)漂移包括判斷所述光強值是否在預(yù)設(shè)的閾值范圍內(nèi)，若是，則所述光源未出現(xiàn)漂移，若否，則所述光源出現(xiàn)漂移；
所述控制器對所述光源進行校正包括對所述光源進行溫度微調(diào)，或者，對所述光源進行延時微調(diào)和溫度微調(diào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述光源為注入鎖定光源，所述注入鎖定光源包括主激光器、從激光器和環(huán)形器；
所述環(huán)形器的第一端與所述主激光器連接，所述環(huán)形器的第二端與所述從激光器連接，所述環(huán)形器的第三端與所述耦合器連接；
所述環(huán)形器用于將所述主激光器出射的激光傳輸至所述從激光器中，以對所述從激光器的出射激光進行注入鎖定；
所述環(huán)形器還用于將所述從激光器出射的激光傳輸至所述耦合器，以使所述耦合器將所述從激光器出射的激光中的部分光線傳輸至所述濾波器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述探測器為單光子探測器；所述控制器為FPGA芯片、MCU或微型CPU。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括功率檢測電路；
所述探測器探測到的光強值經(jīng)過所述功率檢測電路檢測后傳輸至所述控制器。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于科大國盾量子技術(shù)股份有限公司，未經(jīng)科大國盾量子技術(shù)股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821389455.7/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
