[實用新型]光學檢測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821363914.4 | 申請日: | 2018-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN208795650U | 公開(公告)日: | 2019-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳曼;王繼華 | 申請(專利權(quán))人: | 廣州萬孚生物技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01N21/64 |
| 代理公司: | 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 曾銀鳳 |
| 地址: | 510663 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測光源 檢測 轉(zhuǎn)盤 光學檢測系統(tǒng) 多聯(lián) 卡托 轉(zhuǎn)動 光敏檢測器 移位驅(qū)動器 檢測孔 濾光片 波長 本實用新型 濾光片轉(zhuǎn)動 白光光源 反射光 驅(qū)動卡 透射光 發(fā)射 | ||
本實用新型涉及一種光學檢測系統(tǒng),用于對多聯(lián)卡進行檢測,包括卡托、移位驅(qū)動器、檢測光源、轉(zhuǎn)盤和第一光敏檢測器;卡托用于放置多聯(lián)卡,卡托設(shè)有多個檢測孔;檢測光源有多個且分別用于發(fā)射不同波長的檢測光線,多個檢測光源分布在轉(zhuǎn)盤上,轉(zhuǎn)盤能夠轉(zhuǎn)動以帶動不同的檢測光源轉(zhuǎn)動至檢測位;或者,檢測光源為白光光源,檢測光源位于檢測位,光學檢測系統(tǒng)還包括多個分布在轉(zhuǎn)盤上的濾光片,轉(zhuǎn)盤能夠轉(zhuǎn)動以帶動不同的濾光片轉(zhuǎn)動至與檢測位對應(yīng),多個濾光片分別用于選擇通過不同波長的檢測光線;移位驅(qū)動器用于驅(qū)動卡托或檢測光源以使檢測光線依次通過多個檢測孔;第一光敏檢測器用于檢測檢測光線抵達多聯(lián)卡之后的透射光或反射光。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及光學檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種光學檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著光學檢測技術(shù)的發(fā)展,醫(yī)藥領(lǐng)域越來越多的測試項目通過吸光度檢測、熒光檢測等光學技術(shù)進行檢測。由于樣品的不同檢測項目所使用的檢測波長有所不同,為了提高效率,減少樣本量采集,多聯(lián)卡(即將多種檢測指標集中在一張卡片上,同時對樣品進行多項指標檢測的檢測產(chǎn)品)的使用越來越廣泛。
傳統(tǒng)的多聯(lián)卡檢測儀器多通過采用不同發(fā)光波長的LED進行固定位置排列,對應(yīng)多聯(lián)卡每個檢測孔位只有一種檢測波長,一種儀器往往只能檢測一種固定項目組合的多聯(lián)卡,適用范圍窄。
實用新型內(nèi)容
基于此,有必要提供一種能夠適用于多種檢測項目組合的多聯(lián)卡的光學檢測系統(tǒng)。
一種光學檢測系統(tǒng),用于對多聯(lián)卡進行檢測,所述光學檢測系統(tǒng)包括卡托、檢測光源、轉(zhuǎn)盤、移位驅(qū)動器以及第一光敏檢測器;
所述卡托用于放置所述多聯(lián)卡,所述卡托設(shè)有多個檢測孔,多個所述檢測孔分別對應(yīng)所述多聯(lián)卡的多個檢測區(qū)域;
所述檢測光源有多個且分別用于發(fā)射不同波長的檢測光線,多個所述檢測光源分布在所述轉(zhuǎn)盤上,所述轉(zhuǎn)盤能夠轉(zhuǎn)動以帶動不同的所述檢測光源轉(zhuǎn)動至檢測位;或者,所述檢測光源為白光光源,所述檢測光源位于檢測位,所述光學檢測系統(tǒng)還包括多個濾光片,多個所述濾光片分布在所述轉(zhuǎn)盤上,所述轉(zhuǎn)盤能夠轉(zhuǎn)動以帶動不同的所述濾光片轉(zhuǎn)動至與所述檢測位對應(yīng),多個所述濾光片分別用于對所述檢測光源發(fā)射的白光進行過濾并選擇通過不同波長的檢測光線;
所述移位驅(qū)動器用于驅(qū)動所述卡托或所述檢測光源以使所述檢測光線依次通過多個所述檢測孔;
所述第一光敏檢測器用于檢測所述檢測光線抵達所述多聯(lián)卡之后的透射光或反射光。
在其中一個實施例中,多個所述檢測光源在所述轉(zhuǎn)盤上呈圈狀分布,且沿順時針方向或逆時針方向,多個所述檢測光源所發(fā)射的檢測光線的波長依次對應(yīng)所述多聯(lián)卡上順次排列的多個所述檢測區(qū)域所需的波長;或者,多個所述濾光片在所述轉(zhuǎn)盤上呈圈狀分布,且沿順時針方向或逆時針方向,多個所述濾光片允許通過的檢測光線的波長依次對應(yīng)所述多聯(lián)卡上順次排列的多個所述檢測區(qū)域所需的波長。
在其中一個實施例中,所述光學檢測系統(tǒng)還包括第一分光棱鏡和第二光敏檢測器,所述第一分光棱鏡設(shè)置在所述檢測光源與所述卡托之間,所述第一分光棱鏡與所述檢測位對應(yīng)以從所述檢測光線分出分光光線,所述第二光敏檢測器用于檢測所述分光光線。
在其中一個實施例中,所述分光光線與所述檢測光線垂直。
在其中一個實施例中,所述光學檢測系統(tǒng)還包括第二分光棱鏡,所述第二分光棱鏡用于從所述分光光線分出與所述檢測光線同向的光線。
在其中一個實施例中,所述第二分光棱鏡有多個,多個所述分光棱鏡沿所述分光光線排列。
在其中一個實施例中,所述光學檢測系統(tǒng)還包括擋光板,所述擋光板設(shè)置在所述轉(zhuǎn)盤與所述卡托之間,所述擋光板上設(shè)有第一通光孔,所述第一通光孔與所述檢測位對應(yīng)。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





