[實(shí)用新型]光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821363914.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208795650U | 公開(公告)日: | 2019-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳曼;王繼華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州萬(wàn)孚生物技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/25 | 分類號(hào): | G01N21/25;G01N21/64 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 曾銀鳳 |
| 地址: | 510663 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè)光源 檢測(cè) 轉(zhuǎn)盤 光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng) 多聯(lián) 卡托 轉(zhuǎn)動(dòng) 光敏檢測(cè)器 移位驅(qū)動(dòng)器 檢測(cè)孔 濾光片 波長(zhǎng) 本實(shí)用新型 濾光片轉(zhuǎn)動(dòng) 白光光源 反射光 驅(qū)動(dòng)卡 透射光 發(fā)射 | ||
1.一種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),用于對(duì)多聯(lián)卡進(jìn)行檢測(cè),其特征在于,包括卡托、檢測(cè)光源、轉(zhuǎn)盤、移位驅(qū)動(dòng)器以及第一光敏檢測(cè)器;
所述卡托用于放置所述多聯(lián)卡,所述卡托設(shè)有多個(gè)檢測(cè)孔,多個(gè)所述檢測(cè)孔分別對(duì)應(yīng)所述多聯(lián)卡的多個(gè)檢測(cè)區(qū)域;
所述檢測(cè)光源有多個(gè)且分別用于發(fā)射不同波長(zhǎng)的檢測(cè)光線,多個(gè)所述檢測(cè)光源分布在所述轉(zhuǎn)盤上,所述轉(zhuǎn)盤能夠轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)不同的所述檢測(cè)光源轉(zhuǎn)動(dòng)至檢測(cè)位;或者,所述檢測(cè)光源為白光光源,所述檢測(cè)光源位于檢測(cè)位,所述光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)還包括多個(gè)濾光片,多個(gè)所述濾光片分布在所述轉(zhuǎn)盤上,所述轉(zhuǎn)盤能夠轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)不同的所述濾光片轉(zhuǎn)動(dòng)至與所述檢測(cè)位對(duì)應(yīng),多個(gè)所述濾光片分別用于對(duì)所述檢測(cè)光源發(fā)射的白光進(jìn)行過(guò)濾并選擇通過(guò)不同波長(zhǎng)的檢測(cè)光線;
所述移位驅(qū)動(dòng)器用于驅(qū)動(dòng)所述卡托或所述檢測(cè)光源以使所述檢測(cè)光線依次通過(guò)多個(gè)所述檢測(cè)孔;
所述第一光敏檢測(cè)器用于檢測(cè)所述檢測(cè)光線抵達(dá)所述多聯(lián)卡之后的透射光或反射光。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,多個(gè)所述檢測(cè)光源在所述轉(zhuǎn)盤上呈圈狀分布,且沿順時(shí)針?lè)较蚧蚰鏁r(shí)針?lè)较颍鄠€(gè)所述檢測(cè)光源所發(fā)射的檢測(cè)光線的波長(zhǎng)依次對(duì)應(yīng)所述多聯(lián)卡上順次排列的多個(gè)所述檢測(cè)區(qū)域所需的波長(zhǎng);或者,多個(gè)所述濾光片在所述轉(zhuǎn)盤上呈圈狀分布,且沿順時(shí)針?lè)较蚧蚰鏁r(shí)針?lè)较颍鄠€(gè)所述濾光片允許通過(guò)的檢測(cè)光線的波長(zhǎng)依次對(duì)應(yīng)所述多聯(lián)卡上順次排列的多個(gè)所述檢測(cè)區(qū)域所需的波長(zhǎng)。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括第一分光棱鏡和第二光敏檢測(cè)器,所述第一分光棱鏡設(shè)置在所述檢測(cè)光源與所述卡托之間,所述第一分光棱鏡與所述檢測(cè)位對(duì)應(yīng)以從所述檢測(cè)光線分出分光光線,所述第二光敏檢測(cè)器用于檢測(cè)所述分光光線。
4.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述分光光線與所述檢測(cè)光線垂直。
5.如權(quán)利要求4所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括第二分光棱鏡,所述第二分光棱鏡用于從所述分光光線分出與所述檢測(cè)光線同向的光線。
6.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述第二分光棱鏡有多個(gè),多個(gè)所述分光棱鏡沿所述分光光線排列。
7.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)還包括擋光板,所述擋光板設(shè)置在所述轉(zhuǎn)盤與所述卡托之間,所述擋光板上設(shè)有第一通光孔,所述第一通光孔與所述檢測(cè)位對(duì)應(yīng)。
8.如權(quán)利要求1~7任一項(xiàng)所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述檢測(cè)光線經(jīng)過(guò)所述檢測(cè)孔時(shí)能夠通過(guò)所述檢測(cè)孔小孔成像在所述多聯(lián)卡上形成光斑。
9.如權(quán)利要求8所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述第一光敏檢測(cè)器有多個(gè),多個(gè)所述第一光敏檢測(cè)器用于檢測(cè)所述檢測(cè)光線抵達(dá)所述多聯(lián)卡之后的反射光,多個(gè)所述第一光敏檢測(cè)器以所述檢測(cè)光線呈中心對(duì)稱分布。
10.如權(quán)利要求9所述的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括檢測(cè)器托盤,多個(gè)所述第一光敏檢測(cè)器設(shè)置在所述檢測(cè)器托盤上,所述檢測(cè)器托盤設(shè)有第二通光孔,所述第二通光孔與所述檢測(cè)位對(duì)應(yīng)。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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- 光學(xué)檢測(cè)機(jī)
- 用于紗線瑕疵檢測(cè)的雙光源檢測(cè)系統(tǒng)
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