[實(shí)用新型]集成電阻區(qū)的VDMOS器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821357766.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208548354U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳錢(qián) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 江蘇中科君芯科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/78 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/78;H01L29/06 |
| 代理公司: | 蘇州國(guó)誠(chéng)專(zhuān)利代理有限公司 32293 | 代理人: | 韓鳳 |
| 地址: | 214135 江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 第一導(dǎo)電類(lèi)型 體區(qū) 體二極管 柵介質(zhì)層 電荷 歐姆接觸區(qū) 集成電阻 元胞溝槽 反向恢復(fù)特性 正向?qū)▔航?/a> 正向?qū)顟B(tài) 本實(shí)用新型 少數(shù)載流子 導(dǎo)電機(jī)制 導(dǎo)通電阻 導(dǎo)通狀態(tài) 阻斷狀態(tài) 耗盡區(qū) 積累層 漂移區(qū) 單極 導(dǎo)電 導(dǎo)通 耐壓 少子 | ||
本實(shí)用新型涉及一種集成電阻區(qū)的VDMOS器件,其在元胞溝槽之間設(shè)置第一導(dǎo)電類(lèi)型歐姆接觸區(qū)以及第一導(dǎo)電類(lèi)型體區(qū),在柵介質(zhì)層內(nèi)注入電荷,在VDMOS正向?qū)顟B(tài)下,柵介質(zhì)層與第一導(dǎo)電類(lèi)型體區(qū)形成積累層,元胞溝槽溝槽之間不存在第二導(dǎo)電類(lèi)體區(qū),導(dǎo)通電阻將大幅降低。在體二極管導(dǎo)通狀態(tài)下,在注入少量的少子電荷后,第一導(dǎo)電類(lèi)型歐姆接觸區(qū)以及第一導(dǎo)電類(lèi)型體區(qū)即可導(dǎo)通,從而降低體二極管的正向?qū)▔航?,此時(shí)導(dǎo)電機(jī)制以單極型為主,第一導(dǎo)電類(lèi)型漂移區(qū)中少數(shù)載流子濃度較低,極大地提高了體二極管的反向恢復(fù)特性。在VDMOS阻斷狀態(tài)下,柵介質(zhì)層中的電荷能形成耗盡區(qū),與現(xiàn)有的VDMOS結(jié)構(gòu)相比,其耐壓不變。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種VDMOS器件,尤其是一種集成電阻區(qū)的VDMOS器件,屬于VDMOS器件的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
VDMOS是功率半導(dǎo)體中應(yīng)用最廣泛的一類(lèi)功率器件,它具有輸入阻抗高、易驅(qū)動(dòng)、開(kāi)關(guān)速度快、熱穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。在低壓領(lǐng)域,槽柵型VDMOS器件因消除了JFET區(qū)電阻且具有更小的元胞尺寸,從而具有更低的比導(dǎo)通電阻而被廣泛采用。
超結(jié)MOSFET是近年來(lái)出現(xiàn)的一種重要的功率器件,它的基本原理是電荷平衡原理,通過(guò)在普通功率MOSFET的漂移區(qū)中引入超結(jié)結(jié)構(gòu),大大改善了普通MOSFET的導(dǎo)通電阻與擊穿電壓之間的折中關(guān)系,因而在功率系統(tǒng)中獲得了廣泛的應(yīng)用。基本的超結(jié)結(jié)構(gòu)為交替的P柱和N柱,并且P柱、N柱嚴(yán)格滿(mǎn)足電荷平衡。在反向偏壓下,由于橫向電場(chǎng)和縱向電場(chǎng)的相互作用,P柱區(qū)和N柱區(qū)將完全耗盡,耗盡區(qū)內(nèi)縱向電場(chǎng)分布趨于均勻,因而理論上擊穿電壓僅僅依賴(lài)于耐壓層的厚度,與摻雜濃度無(wú)關(guān),因?yàn)槟蛪簩訐诫s濃度可以提高將近一個(gè)數(shù)量級(jí),從而有效地降低了器件的導(dǎo)通電阻。
溝槽柵VDMOS在導(dǎo)通狀態(tài)下,可等效為由漏極至源極的電阻,不考慮漏極和源極接觸電阻時(shí),VDMOS導(dǎo)通電阻RON主要包括以下部分:源區(qū)電阻(RN+),溝道電阻(RCH),積累層電阻(RA),漂移區(qū)電阻(RD)和襯底電阻(RSUB)。對(duì)于高壓VDMOS器件,由于漂移區(qū)摻雜濃度低,漂移區(qū)較長(zhǎng),漂移區(qū)電阻(RD)占比較高。但對(duì)于中低壓VDMOS和超結(jié)VDMOS器件,由于漂移區(qū)摻雜濃度較大,溝道電阻(RCH)占比較高,如何降低溝道電阻電阻成了減小導(dǎo)通電阻RON的關(guān)鍵。
在VDMOS應(yīng)用過(guò)程中,通常需要工作于第三象限(N-MOSFET)或第四象限(P-MOSFET),如電壓調(diào)節(jié)模組VRM(Voltage Regulator Module)和H橋電機(jī)控制電路。以P-MOSFET為例,傳統(tǒng)VDMOS可工作于第二和第四象限,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)集成有PIN體二極管。所集成的PIN體二極管由于PN結(jié)內(nèi)建電勢(shì)Vbi(室溫下Si基器件約0.7V,4H-SiC器件約2.5~3.0V),因此其導(dǎo)通壓降高,Si基器件不低于0.7V,4H-SiC基器件不低于2.5V。此外,在體二極管導(dǎo)通時(shí),由于大注入效應(yīng),導(dǎo)致漂移區(qū)中存在大量的電子-空穴對(duì),在二極管反向恢復(fù)過(guò)程中,需要將電子-空穴對(duì)抽取出,從而導(dǎo)致其開(kāi)關(guān)速度慢,反向恢復(fù)損耗大,極大地限制了電路的工作頻率。為提高二極管的開(kāi)關(guān)速度,通常采用電子輻照或集成肖特基二極管的方式。但電子輻照會(huì)提高VDMOS導(dǎo)通電阻、同時(shí)其電子輻照熱穩(wěn)定性差,特性易退化。而集成肖特基二極管,在高溫條件下,泄露電流大。
為進(jìn)一步解決肖特基二極管的反偏泄露電流大的問(wèn)題,提出集成MOS二極管,采用MOS柵極控制二極管的開(kāi)通或關(guān)斷,如公開(kāi)號(hào)為CN107924950A的文件,其公開(kāi)了MOS二極管具有MOS溝道電阻,MOS二極管元胞結(jié)構(gòu)復(fù)雜,尺寸較大,同時(shí)需要調(diào)整MOS二極管的閾值電壓,其工藝、結(jié)構(gòu)復(fù)雜。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,提供一種集成電阻區(qū)的VDMOS器件,其結(jié)構(gòu)緊湊,能有效降低VDMOS的導(dǎo)通電阻,降低VDMOS體二極管正向?qū)▔航?,改善體二極管的反向恢復(fù)特性,降低VDMOS的功耗。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





