[實用新型]堆棧式芯片硅基質量檢測裝置

有效

• 申請號: 201821349801.9
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN208847672U
• 公開（公告）日: 2019-05-10
• 發明（設計）人: 宋揚;柏澤青;陳學良
• 申請（專利權）人: 天津小庚電子科技有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 北京沁優知識產權代理事務所(普通合伙) 11684
• 代理人: 汪發成

1.堆棧式芯片硅基質量檢測裝置，包括支座一(1)，其特征在于：所述支座一(1)的底部固定連接有支腿一(2)，所述支座一(1)的內部轉動連接有產品傳輸帶(3)，所述支座一(1)底部的左側固定連接有與產品傳輸帶(3)相連接的電機一(4)，所述產品傳輸帶(3)的頂部放置有硅基元件(5)，所述支座一(1)的頂部固定連接有支撐板一(6)，所述支撐板一(6)的頂部固定連接有攝像裝置(7)，所述支撐板一(6)的頂部且位于攝像裝置(7)的正面固定連接有與攝像裝置(7)電連接的圖像處理器(8)，所述支座一(1)的頂部且位于支撐板一(6)的右側固定連接有兩個支撐板二(9)，所述支撐板二(9)的頂部固定連接有機械手(10)，所述支撐板二(9)的頂部且位于機械手(10)的正面固定連接有與機械手(10)電連接的抓取處理器(11)，所述支座一(1)的背面放置有支座二(12)，所述支座二(12)的底部固定連接有支腿二(13)，所述支座二(12)的內部轉動連接有次品傳輸帶(14)，所述支座二(12)底部的左側固定連接有與次品傳輸帶(14)相連接的電機二(15)，所述支座二(12)頂部的正面和背面均固定連接有擋板(16)，兩個所述擋板(16)相對面的一側之間固定連接有三個隔板(17)，兩個所述擋板(16)相對面的一側之間且位于中間隔板(17)的兩側均固定連接有擋片(18)，同一側的兩個所述擋片(18)的頂部固定連接有收集箱(19)，所述支撐板二(9)的頂部且位于機械手(10)的背面固定連接有延伸至收集箱(19)上方的滑板(20)。

2.根據權利要求1所述的堆棧式芯片硅基質量檢測裝置，其特征在于：所述支座一(1)和支座二(12)的左端和右端均呈開口狀。

3.根據權利要求1所述的堆棧式芯片硅基質量檢測裝置，其特征在于：所述產品傳輸帶(3)的頂部位于支座一(1)的頂部下方，所述次品傳輸帶(14)的頂部位于支座二(12)的頂部下方。

4.根據權利要求1所述的堆棧式芯片硅基質量檢測裝置，其特征在于：所述隔板(17)的高度等于擋板(16)高度的二分之一，所述隔板(17)的頂部與擋板(16)的頂部齊平。

5.根據權利要求1所述的堆棧式芯片硅基質量檢測裝置，其特征在于：所述擋片(18)為彈性彈簧鋼，四個所述擋片(18)均位于同一水平面上。

6.根據權利要求1所述的堆棧式芯片硅基質量檢測裝置，其特征在于：所述擋片(18)位于擋板(16)高度位置的二分之一處，所述收集箱(19)的高度小于擋板(16)高度的二分之一。

7.根據權利要求1所述的堆棧式芯片硅基質量檢測裝置，其特征在于：所述滑板(20)呈斜坡狀，所述支撐板二(9)的內部開設有與滑板(20)對應的板槽。