[實用新型]一種封裝測試探針

有效

• 申請號: 201821347872.5
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN209231394U
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 唐艷霞
• 申請（專利權）人: 天津恒芯唯恩泰克電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種封裝測試探針，包括接線端，所述接線端的一側固定設置有握把，所述握把遠離接線端一側固定連接有伸縮桿，所述伸縮桿外部固定設置有第一彈簧，所述，所述第一彈簧遠離握把一側固定設置有金屬柱，所述金屬柱遠離第一彈簧一側固定設置有收縮桿，所述收縮桿內部活動安裝有收縮軸，所述收縮軸內部活動安裝有凸塊，所述凸塊底端固定連接有第二彈簧，所述第二彈簧遠離凸塊一側固定設置有限制塊，所述收縮軸遠離凸塊一側固定設置有滑塊，所述收縮桿內部遠離凸塊一側開設有滑槽。本實用新型可以實現對探針長度的調節，并且可以進行探針探針針頭的收縮，防止運輸不工作時折斷或損壞，具有結構簡單，使用效果好等優點。

技術領域

本實用新型設計測試探針技術領域，具體為一種封裝測試探針。

背景技術

探針是電測試的接觸媒介，為高端精密型電子五金元器件，測試針，用于測試PCBA的一種探針，表面鍍金，內部有平均壽命3萬～10萬次的高性能彈簧，探針根據電子測試用途可分為，光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。

目前使用的封裝探針具有一下缺點：

1、在封裝測試時，需要穿透絕緣層，因此在復雜的線束環境中，需要封裝測試探針能夠快速進行程度調節，尤其是探測部分的伸縮，目前使用的不具備此功能。

2、封裝測試探針的橫截面積較小，容易折斷，因此需要一種可以根據絕緣層厚度進行相應調節探針針頭長度的探針。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種封裝測試探針，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種封裝測試探針，包括接線端，所述接線端的一側固定設置有握把，所述握把遠離接線端一側固定連接有伸縮桿，所述伸縮桿外部固定設置有第一彈簧，所述第一彈簧遠離握把一側固定設置有金屬柱，所述金屬柱遠離第一彈簧一側固定設置有收縮桿，所述收縮桿內部活動安裝有收縮軸，所述收縮軸內部活動安裝有凸塊，所述凸塊底端固定連接有第二彈簧，所述第二彈簧遠離凸塊一側固定設置有限制塊，所述收縮軸遠離凸塊一側固定設置有滑塊，所述收縮桿內部遠離凸塊一側開設有滑槽，所述滑塊活動安裝在滑槽中，所述收縮桿靠近凸塊一側開設有若干圓孔，所述凸塊活動安裝在圓孔中，所述收縮軸遠離金屬柱一側固定設置有探針柱，所述探針柱遠離收縮軸一側活動安裝有探針，所述探針外側活動安裝有旋鈕，所述旋鈕靠近探針一側固定設置有壓緊環，所述探針柱靠近探針一側活動安裝有金屬槽。

優選的，所述接線端遠離握把一側開設有插孔。

優選的，所述凸塊靠近第二彈簧一側固定設置有擋板。

優選的，所述旋鈕下端固定設置有螺栓，所述探針靠近旋鈕一側開設有螺紋孔，所述螺栓與螺紋孔之間螺紋連接。

優選的，所述旋鈕外側固定設置有防滑紋。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

1、本實用新型通過在封裝測試探針上設置凸塊、第二彈簧和圓孔，可以調整收縮桿在收縮軸內的位置，進而實現對測試探針的長度調節，便于根據使用環境調節長度，同時設置了滑塊和滑槽可以提升調節速度，提升工作人員的工作效率；

2、本實用新型同時還設置有探針柱、金屬槽、壓緊環和旋鈕，，由于封裝測試探針對探針粗細的要求較高，需要精細的探針才能夠穿透絕緣層深入到金屬導體，因此通過旋鈕調節壓緊環與金屬槽之間的壓緊效果，可以將探針收縮至探針柱中，防止在不工作狀態損壞探針，具有結構簡單，使用方便等優點。