[實用新型]一種封裝測試探針

有效

• 申請號: 201821347872.5
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN209231394U
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 唐艷霞
• 申請（專利權）人: 天津恒芯唯恩泰克電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種封裝測試探針，包括接線端(1)，其特征在于：所述接線端(1)的一側固定設置有握把(2)，所述握把(2)遠離接線端(1)一側固定連接有伸縮桿(3)，所述伸縮桿(3)外部固定設置有第一彈簧(4)，所述第一彈簧(4)遠離握把(2)一側固定設置有金屬柱(5)，所述金屬柱(5)遠離第一彈簧(4)一側固定設置有收縮桿(6)，所述收縮桿(6)內部活動安裝有收縮軸(7)，所述收縮軸(7)內部活動安裝有凸塊(8)，所述凸塊(8)底端固定連接有第二彈簧(9)，所述第二彈簧(9)遠離凸塊(8)一側固定設置有限制塊(10)，所述收縮軸(7)遠離凸塊(8)一側固定設置有滑塊(11)，所述收縮桿(6)內部遠離凸塊(8)一側開設有滑槽(12)，所述滑塊(11)活動安裝在滑槽(12)中，所述收縮桿(6)靠近凸塊(8)一側開設有若干圓孔(13)，所述凸塊(8)活動安裝在圓孔(13)中，所述收縮軸(7)遠離金屬柱(5)一側固定設置有探針柱(14)，所述探針柱(14)遠離收縮軸(7)一側活動安裝有探針(15)，所述探針(15)外側活動安裝有旋鈕(16)，所述旋鈕(16)靠近探針(15)一側固定設置有壓緊環(17)，所述探針柱(14)靠近探針(15)一側活動安裝有金屬槽(18)。

2.根據權利要求1所述的一種封裝測試探針，其特征在于：所述接線端(1)遠離握把(2)一側開設有插孔(19)。

3.根據權利要求1所述的一種封裝測試探針，其特征在于：所述凸塊(8)靠近第二彈簧(9)一側固定設置有擋板(23)。

4.根據權利要求1所述的一種封裝測試探針，其特征在于：所述旋鈕(16)下端固定設置有螺栓(20)，所述探針(15)靠近旋鈕(16)一側開設有螺紋孔(21)，所述螺栓(20)與螺紋孔(21)之間螺紋連接。

5.根據權利要求1所述的一種封裝測試探針，其特征在于：所述旋鈕(16)外側固定設置有防滑紋(22)。