[實用新型]半導體激光二極管芯片高速直調動態光譜測試裝置有效
| 申請號： | 201821284115.8 | 申請日： | 2018-08-10 |
| 公開（公告）號： | CN208580179U | 公開（公告）日： | 2019-03-05 |
| 發明（設計）人： | 邱德明;張振峰;楊國良 | 申請（專利權）人： | 武漢盛為芯科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 武漢維創品智專利代理事務所(特殊普通合伙) 42239 | 代理人： | 余麗霞 |
| 地址： | 430074 湖北省武漢市東湖新技術開發*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體激光二極管芯片 調制 光譜儀 本實用新型 測試裝置 動態光譜 同軸電纜 直流電流 電流源 偏置器 芯片 探針 光纖 激光二極管芯片 透鏡 脈沖調制電流 測試半導體 測試 背部電極 動態調制 光譜特性 驅動電流 透鏡耦合 直流測試 測試臺 發射光 驅動源 直流源 光譜 封裝 合格率 保證 | ||
【權利要求書】：
1.半導體激光二極管芯片高速直調動態光譜測試裝置，包括半導體激光二極管芯片(21)、探針(22)、測試臺(24)、光纖(23)、透鏡(25)和光譜儀(27)，其特征在于，還包括電流源(26)、偏置器(28)和同軸電纜(29)；
所述半導體激光二極管芯片(21)放于測試臺(24)上，電流源(26)通過探針(22)及半導體激光二極管芯片背部電極給半導體激光二極管芯片(21)供電，所述電流源(26)包括直流源(261)和調制驅動源(262)，所述直流源(261)和調制驅動源(262)采用偏置器(28)經過同軸電纜(29)選擇接入供電電路中，分別給半導體激光二極管芯片(21)提供直流電流和脈沖調制電流，半導體激光二極管芯片(21)發射光通過透鏡(25)耦合到光纖(23)進入光譜儀(27)，光譜儀(27)測試半導體激光二極管芯片(21)的光譜特性。
2.根據權利要求1所述的半導體激光二極管芯片高速直調動態光譜測試裝置，其特征在于：所述調制驅動源(262)內部設有阻抗匹配電路。
4.根據權利要求2或3所述的半導體激光二極管芯片高速直調動態光譜測試裝置，其特征在于：所述阻抗匹配電路中的驅動電流為0～150mA。
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