[實(shí)用新型]一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821234565.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208654209U | 公開(公告)日: | 2019-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王萃東;常兵;施明明;孔令豐;杭曉宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇七維測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/067 | 分類號(hào): | G01R1/067;G01R1/02 |
| 代理公司: | 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 趙海波;曹鍵 |
| 地址: | 214000 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 針卡 乒乓球 球面光源 圓孔 半導(dǎo)體集成電路 本實(shí)用新型 點(diǎn)光源 固定架 探針孔 芯片 測(cè)試 橫向中軸線 同一水平線 測(cè)試效率 光照均勻 平板表面 多芯片 光照量 內(nèi)腔中 球表面 中心點(diǎn) 光源 發(fā)射 制作 保證 | ||
本實(shí)用新型涉及的一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡,包括針卡,所述針卡中心點(diǎn)處設(shè)置有探針孔,所述針卡上方設(shè)置有固定架,固定架上開設(shè)有圓孔,圓孔位于探針孔的正上方,所述圓孔內(nèi)設(shè)置有乒乓球,乒乓球橫向中軸線與平板表面位于同一水平線上,所述乒乓球內(nèi)腔中設(shè)置有點(diǎn)光源。本實(shí)用新型將點(diǎn)光源與乒乓球合二為一,制作成特殊的球面光源,乒乓球的球表面使得點(diǎn)光源的發(fā)射效果好,光照均勻,能夠滿足多芯片同時(shí)測(cè)試,且每個(gè)芯片上的光照量相同,保證各芯片間的測(cè)試一致性,從而有效提高測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)主要由設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝測(cè)試幾部分組成。中測(cè)是半導(dǎo)體后道封裝測(cè)試的第一站,中測(cè)有很多個(gè)名稱,比如針測(cè)、晶圓測(cè)試等。中測(cè)的目的是將硅片中不良的芯片挑選出來(lái),所用到的設(shè)備有測(cè)試機(jī)、探針卡、探針臺(tái)以及測(cè)試機(jī)與探針卡之間的接口。中測(cè)的關(guān)鍵點(diǎn)在于探針卡和接口這兩部分,這也是制約國(guó)內(nèi)中測(cè)水平的難點(diǎn)所在。
隨著半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)的飛速發(fā)展,人們對(duì)測(cè)試效率的要求也不斷提高。以往,由于光敏芯片對(duì)光線要求較高,因此只能在相同光照條件下進(jìn)行單芯片測(cè)試,測(cè)試效率較低。因此,要想提高測(cè)試效率必然要壓縮測(cè)試時(shí)間,而壓縮測(cè)試時(shí)間的最有效方法就是實(shí)現(xiàn)多芯片能夠同時(shí)測(cè)試。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于克服上述不足,提供一種能夠同時(shí)測(cè)試多芯片,提高測(cè)試效率的帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡。
本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的:
一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡,包括針卡,所述針卡中心點(diǎn)處設(shè)置有探針孔,其特點(diǎn)是:所述針卡上方設(shè)置有固定架,固定架上開設(shè)有圓孔,圓孔位于探針孔的正上方,所述圓孔內(nèi)設(shè)置有乒乓球,乒乓球橫向中軸線與平板表面位于同一水平線上,所述乒乓球內(nèi)腔中設(shè)置有點(diǎn)光源。
更進(jìn)一步的,所述圓孔直徑略小于乒乓球直徑。
更進(jìn)一步的,所述乒乓球頂端開設(shè)有直徑為1cm的小孔。
更進(jìn)一步的,所述乒乓球底端與針卡上表面之間距離為2cm。
更進(jìn)一步的,所述固定架包括一塊矩形平板和四根立柱,所述平板與針卡平行,立柱與針卡垂直,所述立柱設(shè)置于平板與針卡之間,四根立柱頂端分別與平板底面的四角固定連接,四根立柱底端與針卡上表面固定連接,所述平板中心點(diǎn)處開設(shè)有圓孔。
更進(jìn)一步的,所述探針孔為橢圓狀,探針孔長(zhǎng)軸尺寸設(shè)置為3-4cm,短軸尺寸設(shè)置為1-2cm。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果是:
1.本實(shí)用新型一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡,將點(diǎn)光源與乒乓球合二為一,制作成特殊的球面光源,并設(shè)置于針卡的探針孔的正上方,乒乓球的球表面使得點(diǎn)光源的發(fā)射效果好,光照均勻,能夠滿足多芯片同時(shí)測(cè)試,且每個(gè)芯片上的光照量相同,保證各芯片間的測(cè)試一致性,從而有效提高測(cè)試效率;
2.本實(shí)用新型較市場(chǎng)上的球面光源而言,其成本低,體積小、質(zhì)量輕,不會(huì)對(duì)針壓有影響,測(cè)試機(jī)的電源能直接驅(qū)動(dòng);
3.乒乓球更換拆裝方便,不會(huì)影響測(cè)試過程中對(duì)探針的清理。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡的正視圖。
圖2為本實(shí)用新型一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡的左視圖。
圖3為本實(shí)用新型一種帶球面光源的半導(dǎo)體集成電路中測(cè)用針卡的俯視圖。
其中:
針卡1
探針孔2
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





