[實(shí)用新型]一種屏蔽槽柵功率MOSFET器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821141262.X | 申請(qǐng)日: | 2018-07-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208507682U | 公開(公告)日: | 2019-02-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳利;陳譯;陳劍;姜帆;張軍亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門芯一代集成電路有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L23/367 |
| 代理公司: | 北京科家知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陳娟 |
| 地址: | 361000 福建省廈門市中國(福建)*** | 國省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 散熱片 連接孔 電路板 本實(shí)用新型 功率MOSFET器件 散熱片固定 表面開設(shè) 散熱機(jī)構(gòu) 屏蔽槽 接孔 電路板接觸 固定散熱片 結(jié)構(gòu)科學(xué) 使用壽命 周圍空氣 有效地 傳導(dǎo) 焊接 貫通 穩(wěn)固 散發(fā) | ||
本實(shí)用新型公開了一種屏蔽槽柵功率MOSFET器件,包括外殼,還包括散熱機(jī)構(gòu),所述散熱機(jī)構(gòu)為散熱片,所述散熱片固定于所述外殼的底部,所述散熱片的表面開設(shè)有連接孔,且連接孔貫通所述散熱片,所述外殼的底部開設(shè)有和所述連接孔對(duì)應(yīng)的外殼接孔;本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)科學(xué)合理,使用安全方便,通過在外殼的底部固定散熱片,并通過散熱片的表面開設(shè)的連接孔和外殼的底部開設(shè)的外殼接孔將散熱片固定穩(wěn)固,當(dāng)MOSFET器件焊接在電路板上時(shí),散熱片和電路板接觸,使MOSFET器件以及電路板發(fā)出的熱量更有效地傳導(dǎo)到散熱片上,再經(jīng)散熱片散發(fā)到周圍空氣中去,延長(zhǎng)電路板以及MOSFET器件的使用壽命。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于MOSFET器件技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種屏蔽槽柵功率MOSFET器件。
背景技術(shù)
金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管,簡(jiǎn)稱金氧半場(chǎng)效晶體管是一種可以廣泛使用在模擬電路與數(shù)字電路的場(chǎng)效晶體管。MOSFET依照其“通道”(工作載流子)的極性不同,可分為“N型”與“P型”的兩種類型。
然而現(xiàn)有的屏蔽槽柵功率MOSFET器件在使用時(shí)仍然存在著一些不合理的因素,現(xiàn)有的屏蔽槽柵功率MOSFET器件焊接在電路板上時(shí),由于外殼直接和電路板焊接,由于屏蔽槽柵功率MOSFET器件和電路板緊密接觸,散熱效率低下,容易造成電路板的損壞。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種屏蔽槽柵功率MOSFET器件,以解決上述背景技術(shù)中提出的現(xiàn)有的屏蔽槽柵功率MOSFET器件在使用時(shí)仍然存在著一些不合理的因素,現(xiàn)有的屏蔽槽柵功率MOSFET器件焊接在電路板上時(shí),由于外殼直接和電路板焊接,由于屏蔽槽柵功率MOSFET器件和電路板緊密接觸,散熱效率低下,容易造成電路板的損壞問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種屏蔽槽柵功率MOSFET器件,包括外殼,還包括散熱機(jī)構(gòu),所述散熱機(jī)構(gòu)為散熱片,所述散熱片固定于所述外殼的底部,所述散熱片的表面開設(shè)有連接孔,且連接孔貫通所述散熱片,所述外殼的底部開設(shè)有和所述連接孔對(duì)應(yīng)的外殼接孔。
優(yōu)選的,所述外殼的側(cè)表面對(duì)立設(shè)置有若干個(gè)引腳,且上述引腳貫通所述外殼的側(cè)表面,并與所述外殼的內(nèi)部焊接。
優(yōu)選的,所述散熱片的長(zhǎng)度大于所述外殼的長(zhǎng)度3-5mm。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)科學(xué)合理,使用安全方便,通過在外殼的底部固定散熱片,并通過散熱片的表面開設(shè)的連接孔和外殼的底部開設(shè)的外殼接孔將散熱片固定穩(wěn)固,當(dāng)MOSFET器件焊接在電路板上時(shí),散熱片和電路板接觸,使MOSFET器件以及電路板發(fā)出的熱量更有效地傳導(dǎo)到散熱片上,再經(jīng)散熱片散發(fā)到周圍空氣中去,延長(zhǎng)電路板以及MOSFET器件的使用壽命。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實(shí)用新型的散熱片側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本實(shí)用新型的散熱片剖視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本實(shí)用新型的外殼仰視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5位平面N溝道增強(qiáng)型MOSFET的剖面圖;
圖6為屏蔽槽柵功率MOSFET器件提供負(fù)壓的互補(bǔ)電路圖;
圖中:1、外殼;2、引腳;3、散熱片;4、連接孔;5、外殼接孔。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
實(shí)施例1
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廈門芯一代集成電路有限公司,未經(jīng)廈門芯一代集成電路有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821141262.X/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





