[實用新型]一種芯片測試壓塊襯套防呆設計結構

有效

• 申請號: 201821022273.6
• 申請日: 2018-06-29
• 公開（公告）號: CN208507631U
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 王楊;王駿卿
• 申請（專利權）人: 昆山芯信安電子科技有限公司
• 主分類號: H01L21/66
• 分類號: H01L21/66;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片測試壓塊襯套防呆設計結構，包括測試壓板（1）、襯套安裝板（2）和襯套（3），其特征在于：所述測試壓板（1）的中心固定設置有測試壓頭（11），所述測試壓板（1）的相對兩側開設有測試通孔（31），所述測試壓板（1）對應測試通孔（31）的周邊開設有卡槽（21），并對應卡槽（21）內部開設有定位通孔（22），所述襯套安裝板（2）的安裝端面固定設置有定位螺釘（23），所述襯套安裝板（2）固定卡裝在卡槽（21）內部，并通過定位螺釘（23）穿過定位通孔（22）設置，所述襯套安裝板（2）對應測試通孔（31）開設有螺紋通槽（24），所述襯套（3）的外壁設置有安裝螺紋（32），并通過安裝螺紋（32）與螺紋通槽（24）內部螺旋安裝，所述襯套（3）的末端通過安裝螺紋（32）螺旋進測試通孔（31）內部設置，所述襯套（3）的外部通過安裝螺紋（32）與測試通孔（31）內壁接觸設置，所述測試壓板（1）對應卡槽（21）的內側開設有槽位（13），且槽位（13）內部通過滑板（131）固定安裝有定位針（14），所述滑板（131）的端面設置有調節槽位（132）。

2.根據權利要求1所述的一種芯片測試壓塊襯套防呆設計結構，其特征在于：所述測試壓頭（11）的周邊設置有防護膠套（12），所述防護膠套（12）的末端延長出測試壓頭（11）的末端，且防護膠套（12）的內壁與測試壓頭（11）的外壁不接觸設置。

3.根據權利要求1所述的一種芯片測試壓塊襯套防呆設計結構，其特征在于：所述測試壓板（1）內部對應槽位（13）的側邊開設有與槽位（13）內部相通的空腔（133），所述滑板（131）與空腔（133）相對的側邊通過復位彈簧（134）與空腔（133）內部固定安裝。

4.根據權利要求1所述的一種芯片測試壓塊襯套防呆設計結構，其特征在于：所述定位針（14）包括針座（141）、定位桿（142）和復位彈簧二（143），所述針座（141）內部呈上開放的中空結構設置，所述定位桿（142）的安裝端通過復位彈簧二（143）固定安裝在針座（141）內部，所述針座（141）與定位桿（142）和復位彈簧二（143）壓縮后的高度一致，且針座（141）的末端與測試壓板（1）的端面在同一平面上。

5.根據權利要求4所述的一種芯片測試壓塊襯套防呆設計結構，其特征在于：所述定位桿（142）的末端設置有膠頭（144），所述定位桿（142）的末端周邊固定設置有擋位圈（145），所述擋位圈（145）的外壁與針座（141）內壁接觸設置。