[實用新型]一種大電流特殊管腳芯片測試插座

有效

• 申請號: 201820952483.9
• 申請日: 2018-06-20
• 公開（公告）號: CN208432692U
• 公開（公告）日: 2019-01-25
• 發明（設計）人: 甘貞龍;賀濤;王傳剛
• 申請（專利權）人: 法特迪精密科技（蘇州)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 張歡勇

本實用新型涉一種本大電流特殊管腳芯片測試插座，其包括用于壓緊芯片的測試蓋，用于定位芯片、收集接地信號的測試座，用于接收管腳測試信號的PCB板和用于收集管腳信號的支撐座，其中，所述測試座、PCB板上開有位置相匹配的、供芯片管腳通過的通孔；所述測試座上設有若干電流測試針，所述電流測試針上下兩端分別延伸至測試座上的通孔上、下沿；所述支撐座于通孔投影位置設有與芯片管腳位置相匹配的若干插孔銅柱，所述PCB板焊接在所述支撐座上表面，所述插孔銅柱延伸至所述PCB板上的通孔上沿。本大電流特殊管腳芯片測試插座能夠對大電流特殊管腳芯片進行有效的定位和測試，且具有散熱速度快、接觸可靠性高，測試穩定性好等優點。

技術領域

本實用新型涉及一種大電流特殊管腳芯片測試插座。

背景技術

對大電流特殊管腳芯片進行測試，需要測試芯片各個管腳的信號，并有效散熱。但由于芯片管腳長，且測試電流很大，傳統的使用測試針的測試方式存在燒針的隱患，難以實現有效測試。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是如何克服現有技術的上述缺陷，提供一種大電流特殊管腳芯片測試插座。

為解決上述技術問題，本大電流特殊管腳芯片測試插座自上而下依次包括用于壓緊芯片的測試蓋，用于定位芯片、收集接地信號的測試座，用于接收管腳測試信號的PCB板和用于收集管腳信號的支撐座，其中，所述測試座、PCB板上開有位置相匹配的、供芯片管腳通過的通孔；所述測試座上設有若干電流測試針，所述電流測試針上下兩端分別延伸至測試座上的通孔上、下沿；所述支撐座于通孔投影位置設有與芯片管腳位置相匹配的若干插孔銅柱，所述PCB板焊接在所述支撐座上表面，所述插孔銅柱延伸至所述PCB板上的通孔上沿。將芯片插入插孔銅柱中，蓋上測試蓋，向下壓緊芯片，此時芯片管腳的信號與電流通過插孔銅柱直接傳入PCB，管殼上的接地信號和電流，經由多支電流測試針傳入PCB，待測試完成后，打開測試蓋，取出芯片，完成一次測試。插孔銅柱元件，將插孔銅柱安裝在支撐座上，再一并將支撐座從插孔銅柱處焊接在PCB上，能縮短電路回路，減小電阻，有效增大測試電流。測試時，將芯片插入插孔銅柱中收集測試信號，完成信號收集與測試。

作為優化，所述測試座于通孔兩側對稱開有兩排針孔，所述電流測試針固定在所述針孔內。所述PCB板于電流測試針位置設有沉金帶。測試座設置電流測試針，能夠轉移芯片殼體電流并幫助傳熱，電流針接觸位置設有大面積沉金，既能有效導通電流，還能促進導熱。

作為優化，所述測試蓋兩側對稱開有兩個側槽。所述測試蓋上部平行開有兩個頂槽。在測試蓋上兩側及頂面有大的開槽，能將芯片大面積暴漏出來，方便散熱。

作為優化，所述測試蓋兩側對稱設有一對用于卡扣所述測試座的扣件，兩扣件上設有捏柄，并于捏柄端部設有若干防滑凸紋。扣件在測試蓋壓緊芯片后將測試蓋固定在測試座上，捏柄用于捏握釋放扣件對測試座的連接，防滑凸紋便于捏握捏柄時指肚施力。

本實用新型一種大電流特殊管腳芯片測試插座能夠對大電流特殊管腳芯片進行有效的定位和測試，且具有散熱速度快、接觸可靠性高，測試穩定性好等優點。

附圖說明

下面結合附圖對本實用新型一種大電流特殊管腳芯片測試插座作進一步說明：

圖1是本大電流特殊管腳芯片測試插座的立體結構示意圖；

圖2是本大電流特殊管腳芯片測試插座的縱剖結構示意圖(圖中示有待測芯片)；

圖3是本大電流特殊管腳芯片測試插座的爆炸結構示意圖(圖中示有待測芯片)。

圖中：1-測試蓋、2-測試座、3-PCB板、4-支撐座、5-通孔、6-電流測試針、7-插孔銅柱；101-側槽、102-頂槽、103-扣件、104-捏柄、105-防滑凸紋、201-針孔、301-沉金帶。

具體實施方式