[實(shí)用新型]一種大電流特殊管腳芯片測(cè)試插座有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820952483.9 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208432692U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 甘貞龍;賀濤;王傳剛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 法特迪精密科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 無(wú)錫市匯誠(chéng)永信專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 張歡勇 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試座 大電流 管腳 通孔 芯片測(cè)試插座 電流測(cè)試 芯片管腳 支撐座 插孔 銅柱 匹配 芯片 支撐座上表面 本實(shí)用新型 測(cè)試穩(wěn)定性 接觸可靠性 測(cè)試 測(cè)試信號(hào) 定位芯片 接地信號(hào) 上下兩端 投影位置 接收管 收集管 散熱 延伸 下沿 壓緊 | ||
1.一種大電流特殊管腳芯片測(cè)試插座,其特征是:該測(cè)試插座自上而下依次包括用于壓緊芯片的測(cè)試蓋(1),用于定位芯片、收集接地信號(hào)的測(cè)試座(2),用于接收管腳測(cè)試信號(hào)的PCB板(3)和用于收集管腳信號(hào)的支撐座(4),其中,
所述測(cè)試座(2)、PCB板(3)上開(kāi)有位置相匹配的、供芯片管腳通過(guò)的通孔(5);
所述測(cè)試座(2)上設(shè)有若干電流測(cè)試針(6),所述電流測(cè)試針(6)上下兩端分別延伸至測(cè)試座(2)上的通孔(5)上、下沿;
所述支撐座(4)于通孔(5)投影位置設(shè)有與芯片管腳位置相匹配的若干插孔銅柱(7),所述PCB板(3)焊接在所述支撐座(4)上表面,所述插孔銅柱(7)延伸至所述PCB板(3)上的通孔(5)上沿。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大電流特殊管腳芯片測(cè)試插座,其特征是:所述測(cè)試座(2)于通孔(5)兩側(cè)對(duì)稱開(kāi)有兩排針孔(201),所述電流測(cè)試針(6)固定在所述針孔(201)內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的大電流特殊管腳芯片測(cè)試插座,其特征是:所述PCB板(3)于電流測(cè)試針(6)位置設(shè)有沉金帶(301)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的大電流特殊管腳芯片測(cè)試插座,其特征是:所述測(cè)試蓋(1)兩側(cè)對(duì)稱開(kāi)有兩個(gè)側(cè)槽(101)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的大電流特殊管腳芯片測(cè)試插座,其特征是:所述測(cè)試蓋(1)上部平行開(kāi)有兩個(gè)頂槽(102)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大電流特殊管腳芯片測(cè)試插座,其特征是:所述測(cè)試蓋(1)兩側(cè)對(duì)稱設(shè)有一對(duì)用于卡扣所述測(cè)試座(2)的扣件(103),兩扣件(103)上設(shè)有捏柄(104),并于捏柄(104)端部設(shè)有若干防滑凸紋(105)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





