[實用新型]一種填石路基孔隙率測定基盤有效

申請號：	201820710310.6	申請日：	2018-05-13
公開（公告）號：	CN208171817U	公開（公告）日：	2018-11-30
發明（設計）人：	粱玉嶺;韓敏慧;左宇歡;吳曼	申請（專利權）人：	中交路橋建設有限公司;中交路橋南方工程有限公司
主分類號：	G01N15/08	分類號：	G01N15/08
代理公司：	北京兆君聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 11333	代理人：	初向慶
地址：	100027 北京市東城***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	套環活動支撐外邊緣基板圓孔孔隙率測定第一層內邊緣最內層基盤填石路基本實用新型大小選擇多層套環由外向內第三層水平泡最外層
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【權利要求書】：

1.一種填石路基孔隙率測定基盤，其特征在于：包括一個矩形的基板，所述基板的中間設有一圓孔，所述圓孔內設有由外向內直徑依次縮小的多層套環，位于最外層的第一層套環的外邊緣活動支撐在所述圓孔的周邊，第二層套環的外邊緣活動支撐在第一層套環的內邊緣，第三層套環的外邊緣活動支撐在第二層套環的內邊緣，以此類推，直至最內層套環；所述基板的平面上沿橫向和縱向，分別設有水平泡。

2.根據權利要求1所述的填石路基孔隙率測定基盤，其特征在于：所述圓孔的周邊設有由外向內、由上向下傾斜的斜面，所述第一層套環的外邊緣設有與圓孔周邊的斜面完全重合的斜面；第一層套環內邊緣設有與圓孔周邊的斜面傾斜度與傾斜方向相同的斜面，第二層套環的外邊緣設有與第一層套環內邊緣的斜面完全重合的斜面，以此類推，直至最內層套環。

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