[實用新型]一種電子元件質檢平臺

有效

• 申請號: 201820701466.8
• 申請日: 2018-05-11
• 公開（公告）號: CN208207140U
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 張華印
• 申請（專利權）人: 蘇州緯隆旺電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;B07C5/344
• 代理公司: 蘇州創策知識產權代理有限公司 32322
• 代理人: 周錦全

1.一種電子元件質檢平臺，包括第一平臺（1），其特征在于：所述第一平臺（1）的上表面四角均設有支撐立柱（2），所述支撐立柱（2）的上端設有第二平臺（3），所述第二平臺（3）的中部上下貫穿設有電阻通孔（4），所述電阻通孔（4）的前后兩端連通有導桿通孔（5），所述第二平臺（3）的上表面左側前后對稱設有上傾斜立板（6），所述第二平臺（3）的上表面且在導桿通孔（5）的右側前后對稱設有擋板（7），所述第二平臺（3）的上表面且在前側的上傾斜立板（6）的前側和后側的上傾斜立板（6）的后側對稱設有第一氣缸（8），所述第二平臺（3）的上表面且在第一氣缸（8）的左側設有第二氣缸（9），所述第一平臺（1）的上表面中部前后對稱設有支架（10），前后相對的所述支架（10）之間設有轉軸（11），所述轉軸（11）上設有翹板（12），所述第一平臺（1）的上表面且在翹板（12）的下側左右對稱設有導向氣缸（13），所述第一平臺（1）的上表面且在左側的導向氣缸（13）的左側前后對稱設有第一下傾斜立板（14），所述第一平臺（1）的上表面且在第一下傾斜立板（14）的左側設有第一收集箱（15），所述第一平臺（1）的上表面且在右側的導向氣缸（13）的右側前后對稱設有第二下傾斜立板（16），所述第一平臺（1）的上表面且在第二下傾斜立板（16）的右側設有第二收集箱（17），所述第一平臺（1）的上表面且在前側的支架（10）的前側和后側的支架（10）的后側對稱設有檢測氣缸（18），所述檢測氣缸（18）的輸出端上設有檢測觸板（19），所述第一平臺（1）的上表面且在前側的檢測氣缸（18）的前側設有控制器（20），所述控制器（20）的上端設有電阻檢測儀（21），所述電阻檢測儀（21）與檢測觸板（19）之間均設有檢測導線（22）。

2.根據權利要求1所述的一種電子元件質檢平臺，其特征在于：所述第一氣缸（8）、第二氣缸（9）、導向氣缸（13）和檢測氣缸（18）均通過導線與控制器（20）連接。

3.根據權利要求1所述的一種電子元件質檢平臺，其特征在于：所述第一平臺（1）的下表面設有支腳套桿（23），所述支腳套桿（23）的下端螺紋連接有支腳桿（24）。

4.根據權利要求1所述的一種電子元件質檢平臺，其特征在于：所述第二平臺（3）的上表面四角均勻設有水平儀（25）。