[實用新型]余輝檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820684880.2 | 申請日： | 2018-05-09 |
| 公開（公告）號： | CN208283569U | 公開（公告）日： | 2018-12-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李樹偉;張文劍;鄒湘;趙博震;張清軍;何會紹;王永強;王燕春 | 申請（專利權(quán)）人： | 同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01T7/00 | 分類號： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 11038 | 代理人： | 艾春慧 |
| 地址： | 100084 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 讀出電路 探測信號 余輝檢測 射線探測器 輸出 本實用新型 第二測量 第一測量 檢測 探測器連接 計算裝置 信號計算 信號連接 輻射 探測器 關(guān)斷 電源 | ||
本實用新型公開了一種余輝檢測裝置。余輝檢測裝置包括：X射線管；第一讀出電路，用于與被檢測探測器連接，檢測時被檢測探測器接受X射線束輻射，并向第一讀出電路輸出第一探測信號，第一讀出電路根據(jù)第一探測信號形成并輸出第一測量信號；殘余射線探測器；第二讀出電路，與殘余射線探測器連接，殘余射線探測器接受X射線束輻射并向第二讀出電路輸出第二探測信號，第二讀出電路根據(jù)第二探測信號形成并輸出第二測量信號；計算裝置，與第一讀出電路和第二讀出電路分別信號連接并根據(jù)關(guān)斷X射線管的電源后的第一測量信號和第二測量信號計算并輸出余輝檢測信號。本實用新型具有簡便、可靠的優(yōu)點。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及輻射檢查技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種余輝檢測裝置。
背景技術(shù)
余輝是指閃爍探測器的外在激發(fā)信號(如射線束或可見光等)消失后，閃爍探測器依然會維持一段時間的可見光的發(fā)射。余輝的強度大致隨時間呈指數(shù)衰減。
余輝一般用外在激勵信號消失后一段時間的相對強度值來衡量。例如，一個典型的碘化銫(鉈)(CsI(Tl))閃爍探測器，外在激發(fā)信號(如X射線束)存在時該閃爍探測器的輸出信號為單位1，在激發(fā)信號消失后10ms時閃爍探測器的輸出信號約為5000ppm左右，即該閃爍探測器在激發(fā)信號消失10ms時的余輝值為0.5％左右。即使閃爍探測器類型相同，不同廠家生產(chǎn)的閃爍探測器的余輝值差別很大，不同的探測單元也會有各自的余輝值。
在采用連續(xù)出束的X射線源或同位素放射源的檢查系統(tǒng)中，閃爍探測器的閃爍體的余輝是影響最終性能指標的重要因素。當(dāng)被檢物質(zhì)較厚時，來自射線源的射線強度衰減到千分之一以下，而余輝值卻可能數(shù)倍于該射線強度值，且不同探測單元的余輝值不同，導(dǎo)致圖像明暗不勻，造成偽信號。
圖1為根據(jù)CsI(Tl)探測器的探測信號形成的掃描圖像。從圖1中可以看到，在相同的鋼板厚度下，右邊比左邊明亮，且不同的探測器的余輝值不同，導(dǎo)致圖像有明暗不同的橫條。
圖2為根據(jù)鎢酸鎘探測器的探測信號形成的掃描圖像。該掃描圖像相比于圖1所述的掃描圖像更整潔清晰。其中，鎢酸鎘是一種閃爍性能優(yōu)良的閃爍探測器材料，其余輝時間短，余輝值低。
圖3為激發(fā)信號消失前后CsI(Tl)探測器的輸出相對強度曲線(細實線)和鎢酸鎘探測器的輸出相對強度曲線(粗實線)的對比示意圖。圖3代表了以CsI(Tl)探測器的高余輝探測器和鎢酸鎘探測器為代表的低余輝探測器的余輝對比結(jié)果。圖3中-10ms到0ms時，有作為激發(fā)信號的X射線束照射至CsI(Tl)探測器和鎢酸鎘探測器。0ms后，無X射線束照射至CsI(Tl)探測器和鎢酸鎘探測器。因此，0ms后CsI(Tl)探測器和鎢酸鎘探測器的輸出相對強度曲線值分別代表各自的余輝值。
解決因余輝現(xiàn)象引起的圖像明暗不勻的方法主要有以下兩種：
一種方法是采用低余輝的閃爍材料作為閃爍探測器的靈敏體積，但該類閃爍材料一般靈敏度較低且價格較高。
另一種方法是針對閃爍探測器的余輝對閃爍探測器的輸出信號進行校正。該方法首先需要對閃爍探測器的余輝進行測量，然后根據(jù)算法程序在閃爍探測器的檢測結(jié)果中扣除余輝影響，從而改善探閃爍測器性能。
對閃爍探測器的余輝進行測量時，需測量徹底斷掉X射線(或gamma射線)后一些時間段，如1ms、5ms、10ms等的余輝值。為了對閃爍探測器的余輝進行測量，需要提供可靠、易用和低成本的余輝檢測裝置和余輝檢測方法。
一般的余輝檢測方法是采用射線源照射閃爍探測器，進行該閃爍探測器的數(shù)據(jù)采集，斷掉射線束后，繼續(xù)保持對該探測器的數(shù)據(jù)采集一定時間，得到該探測器的余輝數(shù)據(jù)。射線源可以為電子加速器、同位素源、X射線管等。
電子加速器價格昂貴、耗電大，難以推廣使用。同位素源一直存在gamma射線束，存在安全性問題。X射線管體積小，使用方便，能量范圍從幾十千伏到幾百千伏，一般為連續(xù)出束的X射線源，如果作為余輝檢測的射線源，有一定的優(yōu)勢。
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