[實用新型]余輝檢測裝置

有效

• 申請號: 201820684880.2
• 申請日: 2018-05-09
• 公開（公告）號: CN208283569U
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 李樹偉;張文劍;鄒湘;趙博震;張清軍;何會紹;王永強;王燕春
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 艾春慧

1.一種余輝檢測裝置，其特征在于，包括：

X射線管(1)，用于發射X射線束；

第一讀出電路(3)，用于與被檢測探測器(10)連接，檢測時所述被檢測探測器(10)設置于所述X射線管(1)的出束側以接受所述X射線束輻射，并向所述第一讀出電路(3)輸出第一探測信號，所述第一讀出電路(3)根據所述第一探測信號形成并輸出第一測量信號；

殘余射線探測器(2)，設置于所述X射線管(1)的出束側；

第二讀出電路(4)，與所述殘余射線探測器(2)連接，所述殘余射線探測器(2)接受所述X射線束輻射并向所述第二讀出電路(4)輸出第二探測信號，所述第二讀出電路(4)根據所述第二探測信號形成并輸出第二測量信號；

計算裝置(5)，與所述第一讀出電路(3)和所述第二讀出電路(4)分別信號連接以接收所述第一測量信號和所述第二測量信號，所述計算裝置(5)根據關斷所述X射線管(1)的電源后的所述第一測量信號和所述第二測量信號計算并輸出余輝檢測信號。

2.根據權利要求1所述的余輝檢測裝置，其特征在于，

所述計算裝置(5)根據關斷所述X射線管(1)的電源后某一時刻所述第一測量信號的值減去該時刻所述第二測量信號的值作為該時刻的所述余輝檢測信號的值；或者，

所述計算裝置(5)根據關斷所述X射線管(1)的電源后某一時刻所述第一測量信號的值減去該時刻所述第二測量信號的修正值作為該時刻的所述余輝檢測信號的值。

3.根據權利要求1所述的余輝檢測裝置，其特征在于，所述殘余射線探測器(2)在激發信號消失后10ms時的輸出相對強度值低于激發信號存在時的0.05％。

4.根據權利要求1所述的余輝檢測裝置，其特征在于，所述殘余射線探測器(2)包括鎢酸鎘探測器。

5.根據權利要求1所述的余輝檢測裝置，其特征在于，所述余輝檢測裝置還包括重金屬片(8)，所述重金屬片(8)設置于所述X射線管(1)的出束側并位于所述X射線管(1)與所述被檢測探測器(10)和所述殘余射線探測器(2)之間，用于衰減所述X射線束的強度。