[實用新型]一種半導體致冷晶棒測試儀有效

申請號：	201820650366.7	申請日：	2018-05-03
公開（公告）號：	CN208092192U	公開（公告）日：	2018-11-13
發明（設計）人：	阮秀滄	申請（專利權）人：	泉州市依科達半導體致冷科技有限公司
主分類號：	G01R31/26	分類號：	G01R31/26;G01R29/12;G01R27/08
代理公司：	福州市鼓樓區鼎興專利代理事務所(普通合伙) 35217	代理人：	黃幼姑;楊慧娟
地址：	362000 福建省泉州市***	國省代碼：	福建;35
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	探頭半導體致冷晶棒數據采集卡熱電偶第二電極第一電極本實用新型采樣電阻測試儀電連接溫差電動勢率加熱器顯示器通訊測試效率工業應用數據記錄限流電阻控制器電阻率人工的頂觸可用相貼串聯電源測試
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【權利要求書】：

1.一種半導體致冷晶棒測試儀，其特征在于：包括第一探頭、第二探頭、第一電極、第二電極和數據采集卡，第一探頭上設有第一熱電偶，第二探頭上設有第二熱電偶和加熱器，第一探頭、第二探頭、第一熱電偶、第二熱電偶均與數據采集卡電連接，第一電極和第二電極間串聯有電源E、開關K、限流電阻R和采樣電阻Rc，采樣電阻Rc的兩端分別與數據采集卡電連接，數據采集卡與一控制器通訊連接，控制器與一顯示器通訊連接，在對半導體致冷晶棒的溫差電動勢率和電阻率進行測試時，第一探頭、第二探頭沿半導體致冷晶棒的長度方向分布，第一探頭、第二探頭的端頭均與半導體致冷晶棒頂觸，第一電極和第二電極分別位于半導體致冷晶棒的兩端且與半導體致冷晶棒貼觸。

2.根據權利要求1所述的半導體致冷晶棒測試儀，其特征在于：第一探頭上的第一熱電偶和第二探頭上的第二熱電偶沿第一探頭、第二探頭分布的中心線相對稱。

下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。

免登錄下載普通用戶下載升級VIP會員，免費下載

該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于泉州市依科達半導體致冷科技有限公司，未經泉州市依科達半導體致冷科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】

本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201820650366.7/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。