[實用新型]一種反射率測定裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820646514.8
• 申請日: 2018-05-02
• 公開（公告）號: CN208125613U
• 公開（公告）日: 2018-11-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蔣利春
• 申請（專利權(quán)）人: 北京華科精儀科技有限公司
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55
• 代理公司: 北京集智東方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11578
• 代理人: 陳亞斌;關(guān)兆輝

1.一種反射率測定裝置，其特征在于，包括：

光源，其用于產(chǎn)生光線；

分束器，其用于對所述光線進行分束，產(chǎn)生透射光以及反射光；

光電池，其用于采集所述反射光；

采集鏡座，其包括底座以及與所述底座連接的安裝部；

準直鏡，其安裝在所述安裝部內(nèi)，且與所述安裝部同軸設(shè)置；

遮光罩，其開設(shè)有供所述安裝部穿過的開孔，且所述開孔與所述準直鏡同軸設(shè)置；

校準組件，其連接所述遮光罩；

以及光譜儀；

所述透射光依次穿過所述采集鏡座、準直鏡以及遮光罩后照射于測試樣品表面，且通過所述測試樣品表面反射的光線經(jīng)所述準直鏡收集后進入到所述光譜儀中，通過所述光譜儀對通過所述測試樣品表面反射的光線進行分析，獲得所述測試樣品地反射率。

2.如權(quán)利要求1所述的反射率測定裝置，其特征在于，所述光源包括波長為200-1100nm的氙燈光源。

3.如權(quán)利要求1所述的反射率測定裝置，其特征在于，所述采集鏡座的底座設(shè)有螺紋。

4.如權(quán)利要求1所述的反射率測定裝置，其特征在于，所述校準組件包括：與所述遮光罩可拆卸連接的校準圈以及設(shè)置在所述校準圈內(nèi)的校準鏡。

5.如權(quán)利要求1所述的反射率測定裝置，其特征在于，所述分束器與準直鏡之間設(shè)有半反半透板；所述透射光穿過所述半反半透板以及準直鏡后照射于測試樣品表面，且通過所述測試樣品表面反射的光線被所述半反半透板反射后進入到所述光譜儀中。

6.如權(quán)利要求1所述的反射率測定裝置，其特征在于，所述光譜儀包括分光單元以及光電檢測單元。