[實(shí)用新型]一種反射率測(cè)定裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820646514.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208125613U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣利春 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京華科精儀科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/55 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/55 |
| 代理公司: | 北京集智東方知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11578 | 代理人: | 陳亞斌;關(guān)兆輝 |
| 地址: | 102208 北京市昌*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反射率測(cè)定裝置 測(cè)試樣品表面 光譜儀 準(zhǔn)直鏡 本實(shí)用新型 分束器 遮光罩 鏡座 反射 漂移 采集 反射率測(cè)定 一體化結(jié)構(gòu) 測(cè)試樣品 校準(zhǔn)組件 反射率 光電池 透射光 光源 照射 穿過(guò) 重復(fù) 分析 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種反射率測(cè)定裝置,其包括:光源;分束器;光電池;采集鏡座;準(zhǔn)直鏡;遮光罩;校準(zhǔn)組件;以及光譜儀。分束器透射光依次穿過(guò)所述采集鏡座、準(zhǔn)直鏡以及遮光罩后照射于測(cè)試樣品表面,且通過(guò)所述測(cè)試樣品表面反射的光線經(jīng)準(zhǔn)直鏡收集后進(jìn)入到所述光譜儀中,通過(guò)所述光譜儀對(duì)通過(guò)所述測(cè)試樣品表面反射的光線進(jìn)行分析,獲得所述測(cè)試樣品的反射率。本實(shí)用新型的反射率測(cè)定裝置為一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),能夠提高反射率測(cè)定的精度(包括示值精度和重復(fù)精度)和穩(wěn)定性,避免示值漂移狀況的發(fā)生。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及光譜檢測(cè)領(lǐng)域,特別涉及一種反射率測(cè)定裝置。
背景技術(shù)
通常反射率測(cè)定裝置采用光源為L(zhǎng)ED光源,其光譜帶相對(duì)較窄,僅能夠滿(mǎn)足可見(jiàn)光波長(zhǎng)測(cè)試,應(yīng)用范圍存在局限性;通常反射率測(cè)定裝置配有采集探頭,并將其相對(duì)測(cè)定對(duì)象垂直放置,但當(dāng)測(cè)試角度發(fā)生改變時(shí),對(duì)同一測(cè)定對(duì)象所采集的反射光光強(qiáng)將發(fā)生改變,影響測(cè)定反射率的準(zhǔn)確度以及重復(fù)精度;進(jìn)一步的,現(xiàn)有反射率測(cè)定裝置需配備用于校定的標(biāo)準(zhǔn)板,隨儀器的經(jīng)年使用以及測(cè)試周?chē)h(huán)境變化,使得測(cè)定儀器采用的光源的各波長(zhǎng)強(qiáng)度發(fā)生變化,則通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)板校定儀器,將無(wú)法精確獲取測(cè)定對(duì)象的反射率。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)上述缺陷,本實(shí)用新型提供了一種基于漫反射式的鏡片反射率測(cè)定裝置,其能夠提高反射率測(cè)定的精度和穩(wěn)定性。
本實(shí)用新型就上述技術(shù)問(wèn)題而提出的技術(shù)方案如下:
提供了一種反射率測(cè)定裝置,其包括:
光源,其用于產(chǎn)生光線;
分束器,其用于對(duì)所述光線進(jìn)行分束,產(chǎn)生透射光以及反射光;
光電池,其用于采集所述反射光;
采集鏡座,其包括底座以及與所述底座連接的安裝部;
準(zhǔn)直鏡,其安裝在所述安裝部?jī)?nèi),且與所述安裝部同軸設(shè)置;
遮光罩,其開(kāi)設(shè)有供所述安裝部穿過(guò)的開(kāi)孔,且所述開(kāi)孔與所述準(zhǔn)直鏡同軸設(shè)置;
校準(zhǔn)組件,其連接所述遮光罩;
以及光譜儀;
所述透射光依次穿過(guò)所述采集鏡座、準(zhǔn)直鏡以及遮光罩后照射于測(cè)試樣品表面,且通過(guò)所述測(cè)試樣品表面反射的光線經(jīng)所述準(zhǔn)直鏡收集后進(jìn)入到所述光譜儀中,通過(guò)所述光譜儀對(duì)通過(guò)所述測(cè)試樣品表面反射的光線進(jìn)行分析,獲得所述測(cè)試樣品地反射率。
優(yōu)選的,所述光源包括波長(zhǎng)為200-1100nm的氙燈光源。
優(yōu)選的,所述采集鏡座的底座設(shè)有螺紋。
優(yōu)選的,所述校準(zhǔn)組件包括:與所述遮光罩可拆卸連接的校準(zhǔn)圈以及設(shè)置在所述校準(zhǔn)圈內(nèi)的校準(zhǔn)鏡。
優(yōu)選的,所述分束器與準(zhǔn)直鏡之間設(shè)有半反半透板;所述透射光穿過(guò)所述半反半透板以及準(zhǔn)直鏡后照射于測(cè)試樣品表面,且通過(guò)所述測(cè)試樣品表面反射的光線被所述半反半透板反射后進(jìn)入到所述光譜儀中。
優(yōu)選的,所述光譜儀包括分光單元以及光電檢測(cè)單元。
本實(shí)用新型的反射率測(cè)定裝置為一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),能夠提高反射率測(cè)定的精度(包括示值精度和重復(fù)精度)和穩(wěn)定性,避免示值漂移狀況的發(fā)生。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例一中的光路圖。
圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例一中包含采集鏡座、準(zhǔn)直鏡以及遮光罩的整體組件的爆炸視圖。
具體實(shí)施方式
為了對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解,現(xiàn)對(duì)照附圖詳細(xì)說(shuō)明本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式。
實(shí)施例一:
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





