[實用新型]光程自動調節的微量分光光度計有效
| 申請號: | 201820612922.1 | 申請日: | 2018-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN208013073U | 公開(公告)日: | 2018-10-26 |
| 發明(設計)人: | 駱志成;樊偉東;金慧杰;劉文冬;陳強 | 申請(專利權)人: | 杭州奧盛儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31 |
| 代理公司: | 浙江翔隆專利事務所(普通合伙) 33206 | 代理人: | 周培培 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 過渡光纖 上檢測平臺 光接收 承放部 微量分光光度計 進光光纖 位置可調 出光端 光程 連通 本實用新型 多段結構 光程調節 光路通道 檢測裝置 驅動機構 通道設置 無級調節 影響檢測 過驅動 光路 驅動 檢測 | ||
1.光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于包括下檢測平臺、設置在下檢測平臺上的驅動機構和檢測裝置、與驅動機構配合的上檢測平臺,以及光路通道,所述光路通道包括進光光纖和與進光光纖形成光路連通的過渡光纖,所述過渡光纖設置在所述上檢測平臺上,所述檢測裝置上具有光接收通道和樣品承放部,所述光接收通道與所述過渡光纖形成光連通,所述樣品承放部與所述過渡光纖的出光端相對應設置,所述驅動機構驅動使所述上檢測平臺位置可調,所述上檢測平臺使所述過渡光纖的出光端位置可調。
2.根據權利要求1所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述下檢測平臺包括底座、與底座固定配合的縱向支架,固定在縱向支架上的橫向支架,所述上檢測平臺包括移動支架,與移動支架配合的旋轉支架,所述移動支架設置在所述橫向支架上,所述旋轉支架上設置所述的過渡光纖,所述驅動機構的驅動端與所述移動支架配合,使所述移動支架實現縱向移動,所述旋轉支架使所述過渡光纖連動。
3.根據權利要求2所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述檢測裝置包括檢測模塊和設置在檢測模塊上的檢測支座,所述檢測支座和所述進光光纖均縱向設置,所述光接收通道設置在所述檢測支座上,所述樣品承放部位于所述檢測支座的上端,并與所述過渡光纖的出光端配合。
4.根據權利要求3所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述過渡光纖呈倒置U形。
5.根據權利要求2-4中任一項所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述下檢測平臺上設置位置傳感器, 所述位置傳感器用于感應所述移動支架的縱向位置。
6.根據權利要求5所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述位置傳感器為光電開關,所述移動支架上設置縱向部,所述縱向部上設置擋光片,所述光電開關與所述擋光片配合。
7.根據權利要求2-4中任一項所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述下檢測平臺上設置距離傳感器,所述距離傳感器與所述旋轉支架配合,用于感應所述過渡光纖的出光端與所述樣品承放部之間的距離。
8.根據權利要求7所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述旋轉支架上設置磁鐵,所述磁鐵與所述移動支架吸合。
9.根據權利要求8所述的光程自動調節的微量分光光度計,其特征在于所述縱向支架上設置縱向導向部件,所述縱向導向部件與所述移動支架配合。
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