[實(shí)用新型]一種LM2100崩應(yīng)可靠度測(cè)試機(jī)老化板結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820376921.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208421157U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 覃昱華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海季豐電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 老化板 老化測(cè)試設(shè)備 可靠度測(cè)試 芯片測(cè)試 接口板 銅柱 芯片 本實(shí)用新型 測(cè)試成本 測(cè)試設(shè)備 測(cè)試需求 待測(cè)芯片 連接接口 整合測(cè)試 測(cè)試板 測(cè)試機(jī) 大電流 小電流 電源 測(cè)試 | ||
1.一種LM2100崩應(yīng)可靠度測(cè)試機(jī)老化板結(jié)構(gòu),包括老化測(cè)試設(shè)備(4),其特征在于:所述老化測(cè)試設(shè)備(4)的內(nèi)部由PCB(1)、銅柱(2)和接口板(5)組成,所述PCB(1)上側(cè)的面板上開(kāi)設(shè)有通孔(3),PCB(1)上方設(shè)置有銅柱(2),所述銅柱(2)的一端嵌入在通孔(3)內(nèi),銅柱(2)的另一端固定連接有接口板(5)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LM2100崩應(yīng)可靠度測(cè)試機(jī)老化板結(jié)構(gòu),其特征在于:所述PCB(1)上設(shè)有4個(gè)半徑1mm的通孔(3)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LM2100崩應(yīng)可靠度測(cè)試機(jī)老化板結(jié)構(gòu),其特征在于:所述PCB(1)上安裝的銅柱(2)數(shù)量為2個(gè),相鄰的間距為40mm,與PCB(1)邊沿夾角為90°。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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