[實用新型]一種太赫茲反射式測量裝置

有效

• 申請號: 201820315986.5
• 申請日: 2018-03-07
• 公開（公告）號: CN208013069U
• 公開（公告）日: 2018-10-26
• 發明（設計）人: 張新海;鐘義暉
• 申請（專利權）人: 深圳市鵬星光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01J3/42;G01J3/02
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 唐致明;洪銘福

本實用新型公開了一種太赫茲反射式測量裝置，包括外殼，其還包括第一支架和第二支架，所述第一支架和第二支架之間夾角小于10度，其中，被測物置于所述述第一支架和第二支架交點處；所述第一支架上依次設置有第一聚焦透鏡、第一準直透鏡和光電導發射天線模塊，所述第二支架上依次設置有第二準直透鏡、第二聚焦透鏡和光電導接收天線模塊；所述光電導發射天線模塊發射的太赫茲波經第一準直透鏡準直并經所述第一聚焦透鏡聚焦后發射至被測物，所述被測物將所述太赫茲波反射至第二準直透鏡準直并經所述第二聚焦透鏡聚焦后發射至所述光電導接收天線模塊。與傳統設計方式相比較，具有使用方便，節省物料成本的優點，廣泛應用于光學測距領域。

技術領域

本實用新型涉及測量領域，具體為太赫茲反射式測量裝置。

背景技術

目前，太赫茲反射譜測量多在光學平臺上安裝五維調節架，并在調節架中固定固定透鏡組、光電導天線以及被測物，每次都需要調節調節架以在接收端獲得太赫茲光譜，使用不方便，且測試結果重復性不高。

綜上，該技術有必要進行改進。

實用新型內容

為了解決上述技術問題，本實用新型的目的是提供一種太赫茲反射式測量裝置。

本實用新型所采用的技術方案是：

本實用新型提供一種太赫茲反射式測量裝置，包括外殼，其還包括第一支架和第二支架，所述第一支架和第二支架之間夾角小于10度，其中，被測物置于所述第一支架和第二支架交點處；所述第一支架上依次設置有第一聚焦透鏡、第一準直透鏡和光電導發射天線模塊，所述第二支架上依次設置有第二準直透鏡、第二聚焦透鏡和光電導接收天線模塊；所述光電導發射天線模塊發射的太赫茲波經第一準直透鏡準直并經所述第一聚焦透鏡聚焦后發射至被測物，所述被測物將所述太赫茲波反射至第二準直透鏡準直并經所述第二聚焦透鏡聚焦后發射至所述光電導接收天線模塊。

作為該技術方案的改進，所述被測物位于所述第一聚焦透鏡的焦點處。

作為該技術方案的改進，所述光電導發射天線模塊置于所述第一準直透鏡的焦點處。

作為該技術方案的改進，所述光電導發射天線模塊包括光電導發射天線和光電導發射天線固定座，所述光電導發射天線固定至所述光電導發射天線固定座上。

進一步地，所述光電導接收天線模塊包括光電導接收天線和光電導接收天線固定座，所述光電導接收天線固定至所述光電導接收天線固定座上。

進一步地，所述光電導發射天線和光電導接收天線均為光纖耦合光電導天線。

進一步地，所述第一支架和第二支架用于放置被測物的一側均采用圓弧形端面。

進一步地，所述第一準直透鏡和第二準直透鏡均為TPX平凸透鏡。

進一步地，所述第一聚焦透鏡和第二聚焦透鏡均為TPX平凸透鏡。

本實用新型的有益效果是：本實用新型提供的應用于太赫茲反射光譜測量的裝置，采用透鏡組對太赫茲波進行準直聚焦，避免了使用較重的離軸拋物鏡，使用輕便；通過結構件固定透鏡組、光電導天線及被測物的相對位置，方便測量。與傳統設計方式相比較，具有使用方便，節省物料成本的優點。

附圖說明

下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步說明：

圖1是本實用新型一實施例的示意圖。

具體實施方式

需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。