[實(shí)用新型]一種太赫茲反射式測(cè)量裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820315986.5
• 申請(qǐng)日: 2018-03-07
• 公開（公告）號(hào): CN208013069U
• 公開（公告）日: 2018-10-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張新海;鐘義暉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市鵬星光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/25
• 分類號(hào): G01N21/25;G01J3/42;G01J3/02
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 唐致明;洪銘福

1.一種太赫茲反射式測(cè)量裝置，包括外殼，其特征在于，其還包括第一支架和第二支架，所述第一支架和第二支架之間夾角小于10度，其中，被測(cè)物置于所述第一支架和第二支架交點(diǎn)處；所述第一支架上依次設(shè)置有第一聚焦透鏡、第一準(zhǔn)直透鏡和光電導(dǎo)發(fā)射天線模塊，所述第二支架上依次設(shè)置有第二準(zhǔn)直透鏡、第二聚焦透鏡和光電導(dǎo)接收天線模塊；所述光電導(dǎo)發(fā)射天線模塊發(fā)射的太赫茲波經(jīng)第一準(zhǔn)直透鏡準(zhǔn)直并經(jīng)所述第一聚焦透鏡聚焦后發(fā)射至被測(cè)物，所述被測(cè)物將所述太赫茲波反射至第二準(zhǔn)直透鏡準(zhǔn)直并經(jīng)所述第二聚焦透鏡聚焦后發(fā)射至所述光電導(dǎo)接收天線模塊。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述被測(cè)物位于所述第一聚焦透鏡的焦點(diǎn)處。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述光電導(dǎo)發(fā)射天線模塊置于所述第一準(zhǔn)直透鏡的焦點(diǎn)處。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述光電導(dǎo)發(fā)射天線模塊包括光電導(dǎo)發(fā)射天線和光電導(dǎo)發(fā)射天線固定座，所述光電導(dǎo)發(fā)射天線固定至所述光電導(dǎo)發(fā)射天線固定座上。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述光電導(dǎo)接收天線模塊包括光電導(dǎo)接收天線和光電導(dǎo)接收天線固定座，所述光電導(dǎo)接收天線固定至所述光電導(dǎo)接收天線固定座上。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述光電導(dǎo)發(fā)射天線和光電導(dǎo)接收天線均為光纖耦合光電導(dǎo)天線。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述第一支架和第二支架用于放置被測(cè)物的一側(cè)均采用圓弧形端面。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或7所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述第一準(zhǔn)直透鏡和第二準(zhǔn)直透鏡均為TPX平凸透鏡。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或7所述的太赫茲反射式測(cè)量裝置，其特征在于：所述第一聚焦透鏡和第二聚焦透鏡均為TPX平凸透鏡。