[實(shí)用新型]一種芯片清洗夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820309972.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208062028U | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邱國(guó)臣;曹海娜;亢?jiǎn)?/a> | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十一研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/673 |
| 代理公司: | 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 吳永亮 |
| 地址: | 100015*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 夾具本體 容置槽 夾具 芯片清洗 清洗 芯片 本實(shí)用新型 一體化設(shè)計(jì) 芯片放置 芯片制備 內(nèi)開 通孔 追蹤 貫穿 | ||
本實(shí)用新型公開了一種芯片清洗夾具,涉及芯片制備技術(shù)領(lǐng)域。該芯片清洗夾具,包括:夾具本體,在夾具本體上開設(shè)的多個(gè)容置槽;夾具本體與多個(gè)容置槽為一體化設(shè)計(jì),多個(gè)容置槽內(nèi)開設(shè)有多個(gè)貫穿夾具本體的通孔。通過將芯片放置在容置槽內(nèi),對(duì)芯片進(jìn)行清洗,以實(shí)現(xiàn)對(duì)每一個(gè)芯片的清洗和位置信息追蹤。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及芯片制備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種芯片清洗夾具。
背景技術(shù)
如今,半導(dǎo)體集成電路的設(shè)計(jì)與生產(chǎn),以及各種微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)功能器件的制造越來越表現(xiàn)出趨向于大規(guī)模的特點(diǎn)。同時(shí)材料技術(shù)的發(fā)展也使各種大尺寸的半導(dǎo)體材料晶片被投入到器件制造領(lǐng)域,為了保證芯片的性能一致性和成品率,制造過程中材料和工藝的均勻性就成為了一項(xiàng)重要的參考指標(biāo)。而對(duì)于一些功能器件來說,芯片篩選后仍然需要進(jìn)行較多又復(fù)雜的工藝步驟。
在實(shí)際的測(cè)試過程中,出現(xiàn)了一些與材料或工藝均勻性相關(guān)的問題。如,芯片浸入洗液的同時(shí)會(huì)因?yàn)橐后w的流動(dòng)在容器里滑行,不具有固定性,如果放入芯片的數(shù)量多則會(huì)引起各芯片之間的碰觸和摩擦,因而也會(huì)造成芯片的崩邊損壞。芯片直接浸入盛有洗液的容器里,芯片背面與容器直接接觸,可能粘附容器中殘留的沾污粒子,潔凈度沒有保障同時(shí)對(duì)后道工序產(chǎn)生極大影響。沒有適當(dāng)以及科學(xué)的芯片篩選夾具,芯片的成品率會(huì)受到影響。因此,需要設(shè)計(jì)一種新的清洗夾具來實(shí)現(xiàn)芯片清洗和定位追蹤。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型提供一種芯片清洗夾具,用以實(shí)現(xiàn)對(duì)每一個(gè)芯片的清洗和位置信息追蹤。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供一種芯片清洗夾具,所述芯片清洗夾具包括:夾具本體,在所述夾具本體上開設(shè)的多個(gè)容置槽;
所述夾具本體與所述多個(gè)容置槽為一體化設(shè)計(jì),所述多個(gè)容置槽內(nèi)開設(shè)有多個(gè)貫穿所述夾具本體的通孔。
可選地,所述夾具本體由聚四氟乙烯材料制成。
可選地,所述夾具本體上還開設(shè)有夾持孔。
可選地,所述夾持孔為貫穿所述夾具本體的通孔。
可選地,所述夾持孔為多個(gè),所述夾持孔呈一條直線地分布在所述夾具本體上。
可選地,所述多個(gè)容置槽呈陣列的分布在所述夾具本體上。
可選地,所述夾具本體的厚度為7mm~9mm、端面長(zhǎng)邊為80mm~100mm、端面短邊為40mm~50mm。
可選地,所述通孔的直徑為2~4mm。
可選地,每一所述容置槽內(nèi)開設(shè)有的所述通孔呈陣列分布在所述容置槽的底部。
可選地,所述夾具本體還開設(shè)有一倒角。
根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的芯片清洗夾具,包括:夾具本體,在所述夾具本體上開設(shè)的多個(gè)容置槽;所述夾具本體與所述多個(gè)容置槽為一體化設(shè)計(jì),所述多個(gè)容置槽內(nèi)開設(shè)有多個(gè)貫穿所述夾具本體的通孔。通過將芯片放置在容置槽內(nèi),對(duì)所述芯片進(jìn)行清洗,以實(shí)現(xiàn)對(duì)每一個(gè)芯片的清洗和位置信息追蹤。
上述說明僅是本實(shí)用新型技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本實(shí)用新型的技術(shù)手段,而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本實(shí)用新型的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式。
附圖說明
通過閱讀下文優(yōu)選實(shí)施方式的詳細(xì)描述,各種其他的優(yōu)點(diǎn)和益處對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將變得清楚明了。附圖僅用于示出優(yōu)選實(shí)施方式的目的,而并不認(rèn)為是對(duì)本實(shí)用新型的限制。而且在整個(gè)附圖中,用相同的參考符號(hào)表示相同的部件。在附圖中:
圖1為本實(shí)用新型第一實(shí)施例所述提供的芯片清洗夾具的正視圖;
圖2為本實(shí)用新型第一實(shí)施例所述提供的芯片清洗夾具的側(cè)視圖;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





