[實用新型]一種中子探測裝置及系統

有效

• 申請號: 201820251539.8
• 申請日: 2018-02-12
• 公開（公告）號: CN207908701U
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 侯立飛;余波;王鵬;黃天暄;杜華冰;車興森;韋敏習;王靜;楊國洪;尚萬里
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01T3/08
• 分類號: G01T3/08
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 孫輝

1.一種中子探測裝置，其特征在于，包括輸出頭、連接件、探測件以及外殼，所述輸出頭固定安裝于所述外殼上，所述連接件和所述探測件安裝于所述外殼內，所述連接件分別與所述輸出頭和所述探測件連接；

所述探測件用于采集電信號；

所述連接件用于將所述電信號傳輸至所述輸出頭。

2.如權利要求1所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述連接件包括底端和頂端，所述底端橫截面積大于所述頂端橫截面積，所述底端與所述探測件連接，所述頂端與所述輸出頭連接。

3.如權利要求1所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述連接件設置有孔洞，所述孔洞與所述輸出頭配合。

4.如權利要求1所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述輸出頭包括針芯、第一絕緣層以及第一外殼層，所述第一絕緣層和所述第一外殼層由內向外依次設置于所述針芯中部，所述針芯一端與所述連接件連接，所述第一外殼層與所述外殼連接。

5.如權利要求1所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述探測件采用CVD金剛石。

6.如權利要求1所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述中子探測裝置還包括固定環，所述固定環與所述連接件連接，用于將所述探測件夾持于所述固定環與所述連接件之間。

7.如權利要求6所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述固定環包括相互連接且同軸設置的第一圓環和第二圓環，所述第一圓環的外徑與所述第二圓環的外徑相等，所述第一圓環的內徑小于所述第二圓環的內徑，所述第一圓環在其與所述第二圓環的連接處設置有一階梯面，所述探測件安裝于所述階梯面處，所述連接件和所述探測件連接的一端與所述第二圓環的內壁過盈配合。

8.如權利要求6所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述中子探測裝置還包括壓環，所述壓環沿徑向由內至外設有依次連接的壓塊、連接部及外接環，所述壓塊穿過所述固定環與所述探測件連接，所述外接環與所述外殼連接。

9.如權利要求8所述的一種中子探測裝置，其特征在于，所述壓塊上設置有通孔，所述通孔與所述壓塊同軸設置，所述通孔穿過所述固定環與所述探測件連接。

10.一種中子探測系統，其特征在于，包括中子探測裝置、電子學裝置、中子源裝置，所述中子探測裝置包括輸出頭、連接件、探測件以及外殼；所述中子探測裝置安裝于所述中子源裝置中，所述輸出頭固定安裝于所述外殼上，并與所述電子學裝置連接；所述連接件和所述探測件安裝于所述外殼內，所述連接件分別與所述輸出頭和所述探測件連接；

所述探測件用于采集所述中子源裝置產生的電信號；

所述連接件用于將所述電信號傳輸至所述輸出頭，以傳輸至所述電子學裝置進行分析處理，以得到中子數據。