[實用新型]用于檢測LED封裝缺陷的光學檢測設備

有效

• 申請號: 201820207917.2
• 申請日: 2018-02-06
• 公開（公告）號: CN208390470U
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 連程杰;朱干軍
• 申請（專利權）人: 義烏臻格科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 杭州豐禾專利事務所有限公司 33214
• 代理人: 陳迪

本實用新型涉及一種用于檢測LED封裝缺陷的光學檢測設備。它包括有機架，其上固定有X向軌道，X向軌道上滑動配合有與其垂直設置的Y向軌道，Y向軌道上滑動配合有用于搭載LED支架的載臺，且載臺上的LED支架的正反面為外露設置，機架上且位于載臺的可移動區域內固定有鏡頭朝下的第一拍攝裝置和鏡頭朝上的第二拍攝裝置，第一拍攝裝置和第二拍攝裝置為同軸線設置，所述載臺的高度為介于第一拍攝裝置和第二拍攝裝置之間，機架上且位于載臺的可移動區域內還設有豎直設置且可上下運動的頂出桿。本實用新型是基于整個LED支板操作，拍攝裝置可同時拍攝樣品的正反面，檢測效率高。樣品處于靜止狀態，使得檢測準確度大幅提升。

技術領域

本實用新型涉及一種光學檢測設備，尤其是涉及一種用于檢測LED封裝缺陷的光學檢測設備。

背景技術

自動光學（缺陷）檢測機在半導體芯片，封裝器件和電路印刷版等各個行業是廣泛使用的檢測設備，用于檢測產品外觀，以及關鍵尺寸是否合規的一類設備。隨著半導體產業升級，產品精致化，嚴格化，已經新的封裝技術，涂層技術，相關材料科學的進步和升級，自動光學（缺陷）檢測機在物理光學照明和成像手段、測量操作方式和軟件算法上都有更新和升級。

過往的應用于LED燈珠封裝的自動光學缺陷檢測機一直采取對單顆LED燈珠進行逐個檢驗的形式，例如將LED支架上的LED燈珠扣下來后，將其擺放在精度要求低的旋轉運動臺，在LED燈珠旋轉走行過程中，在多個測量位置使用照明和攝像裝置抓取LED燈珠的不同集合面，再利用簡單算法來甄別LED的優劣。這種運動方式極大的限制了圖像成像高精度要求畫質要求，導致圖像識別缺陷判斷準確性受限，同時也限制了測量速度的提高。

發明內容

本實用新型提供了一種測量速度快精度高的用于檢測LED封裝缺陷的光學檢測設備；解決現有技術中存在檢測精準度不高、檢測速度低下的問題。

本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的：一種用于檢測LED封裝缺陷的光學檢測設備，其特征在于：它包括機架，其上固定有水平設置的X向軌道，X向軌道上滑動配合有與其垂直設置的Y向軌道，Y向軌道上滑動配合有用于搭載LED支架的載臺，且載臺上的LED支架的正反面為外露設置，機架上且位于載臺的可移動區域內固定有鏡頭朝下的第一拍攝裝置和鏡頭朝上的第二拍攝裝置，第一拍攝裝置和第二拍攝裝置為同軸線設置，所述載臺的高度為介于第一拍攝裝置和第二拍攝裝置之間，機架上且位于載臺的可移動區域內還設有豎直設置且可上下運動的頂出桿，頂出桿為高于載臺所在高度，所述的機架上還設有輔助照明裝置。Y向軌道可沿著X向軌道前后移動，驅動方式可選用直線電機，同時Y向軌道上的載臺可左右移動，在載臺可移動區域內還設有第一拍攝裝置和第二拍攝裝置，載臺上的LED支架的正反面為外露設置，載臺可帶動LED支架抵達第一拍攝裝置和第二拍攝裝置對應的拍攝位置，在輔助照明裝置的配合下，可同時完成對LED支架正反面的拍攝，系統可自動檢測出LED支架上不合格的燈珠，然后載臺帶動LED支架抵達頂出桿的工作位置，系統可依次調整載臺的位置，使其上的不合格燈珠對準頂出桿，頂出桿向下運動，將該燈珠頂出LED支架，直至除去所以不合格燈珠。本實用新型是基于整個LED支板操作，拍攝裝置可同時拍攝樣品的正反面，檢測效率高。同時拍攝時，樣品處于靜止狀態，拍攝精確度高，使得檢測準確度大幅提升。

作為優選，所述機架上且位于載臺可移動區域的前側設有可上下滑動的上料盒，上料盒內可縱向疊放LED支架，機架上還設有可將LED支架向后推出上料盒的推桿。上料盒位于載臺可移動區域的前側，上料盒內縱向疊放有相互等間距擺放的LED支架，上料盒可由電機或氣缸控制調整其高度，將其上未檢測的LED支架依次調整至與載臺等高設置，然后推桿可將該LED支架從上料盒內推動至載臺上。因此該實用新型具有自動上料功能，有助于提高檢測速率。

作為優選，所述的載臺為上下雙層結構，可由氣缸控制上下開合，且載臺的上下面均設有拍攝窗口。載臺為上下雙層結構，樣品放置在中間空間內，氣缸控制雙層結構開合，保證樣品的穩固性。同時載臺的上下面均設有拍攝窗口，通過拍攝窗口可看見樣品正反面上的所有LED燈珠。